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J.应用。
克里斯特。
(2016).
49
,
1904-1911
https://doi.org/10.1107/S16057616013935
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正常开放
接近
测量热障涂层残余应力随深度变化的同步辐射X射线衍射反褶积方法
C.李
,
S.D.M.雅克
,
Y.Chen先生
,
D.戴森伯格
,
P.肖
,
N.马尔科桑
,
P.尼龙
和
R.J.塞尼克
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