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《水晶学报》。
(1993).
A类
49
,
c323-c324号
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利用X射线掠角反射率数据评估抛光硅表面和磁性多层界面的微粗糙度
M.Nakanishi先生
,
A.余。
尼库林
,
O.坂田
和
H.哈希祖姆
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