封面插图:基于聚类算法的分析方法用于铁电PbZr的X射线纳米衍射研究0.2钛0.8O(运行)三(PZT)薄膜(参见Christiansen-Salameh、Yang、Rippy、Li、Cai、Holt、Agnus、Maroutian、Lecoeur、Matzen和Kukreja,第207–213页). 该方法将X射线纳米衍射技术的能力扩展到高度镶嵌和非均匀样品,并揭示了PZT薄膜中存在两种不同的相。
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