封面插图：SACLA使用散斑干涉仪进行Sub-10 nm XFEL光束诊断（参见井上、松山、山田、中村、大阪、井上、Inubushi、Tono、Yumoto、Koyama、Ohashi、Yabashi、Ishikawa和Yamauchi，第883-889页). 焦点附近的计算光束轮廓（左侧）；计算出纳米粒子的散斑图（中心）；散斑图案的自相关函数（右）。
最近发表的光束线文章如下。
