1.简介
核共振振动光谱(NRVS)通过核共振扫描极单色(~1 meV)X射线束(例如 5714.4 keV的Fe)并测量相应声子的产生或湮灭(Seto等。, 1995
, 2009
; 斯图尔罕等。, 1995
; 尤达等。, 2001
, 2012
). 这是一个相对较新的X射线光谱学由于第三代同步辐射源、插入装置和先进的X射线光学技术的发展,这一技术成为可能。与传统的红外(IR)和共振拉曼(RR)光谱相比,它有几个显著的优点(史密斯等。, 2005
)近年来,它已成为研究铁特定无机和生物无机化学的一种极好的针尖工具。例如,它揭示并解析了各种化学或酶分子中的Fe-S/P/Cl和Fe-CO/CN/NO振动模式(Smith等。, 2005
; 肖等。, 2005
, 2006
; 丁伯格等。, 2010
; 做等。, 2011
; 卡马利等。, 2013
).
用于NRVS的高分辨率单色器(HRM)的能量可以通过以下方式进行扫描(或非自愿改变):(i)HRM晶体之间的相对散射角;和/或(ii)一个后向反射晶体的温度(Zhao&Sturahn,2012)
). 因此,能量标度的准确性取决于对HRM晶体的角度、温度以及热梯度的高精度测量(和控制)。误差通常约为HRM能量的百分之几。为了获得更高的精度,需要额外的校准(Zhao&Sturahn,2012
). NRVS,尤其是生物样品上的NRVS信号水平很弱,需要约24–48小时(Kamali等。, 2013
)以获得稀释样品的质量光谱。在如此长的时间内,能量位置/标度成为获取目标弱光谱峰良好统计数据的一个特殊问题,应经常进行校准。此外,仔细的逐扫描校准对于观察不同NRVS光谱之间的小位移是绝对必要的。
常规NRVS校准是通过在主NRVS室中测量标准校准样品(CS)来进行的。该程序包括:(i)将低温恒温器底座加热至140–200 K(Wang等。, 2012
); (ii)从试验箱(低温恒温器)中取出现有NRVS样品;(iii)CS中的装载;(iv)冷却CS(例如至10 K;传感器读数);以及(v)测量CS。实际上,前两个NRVS光谱的峰值位置有点不可重复,这可能是由于实际样品温度的逐渐转变(Wang等。, 2012
). 整个过程通常需要3-4小时。这种耗时的特性使得频繁的能量校准不切实际。
同时,X射线照射下的样品可能在分子内储存能量。“辐射损伤”可能在低温下“冻结”(Garman&Nave,2009
). 从低温恒温器底座上取下样品意味着要加热样品并增加辐射损伤的可能性,如果可能的话,应该避免这种情况。这使得不可能在一次NRVS测量期间进行能量校准,对于稀释样品,可能长达48小时[例如关于NiFe氢化酶(Kamali等。, 2013
)]. 因此,对于生物NRVS测量,必须探索不将NRVS样品移出低温恒温器的替代校准程序。
在最近的一份出版物中,Zhao&Sturahn(2012
)报道了一种成功的校准HRM能量的程序,该程序使用了铁箔(或任何样品)中声子湮灭和声子产生之间的详细平衡,NRVS测量装置发生了微小变化。这是一种样本独立方法,不需要指定的标准样本。它还为感兴趣的HRM提供了准确的能量标尺(包括高阶修正)。然而,其过程大约需要4小时(Zhao&Sturahn,2012
)这仍然限制了其作为常规NRVS测量期间的频繁能量检查的应用。
在本研究中,通过主测量室操纵14.4keV光束[图1(一)和1(b条)
]在不将主样品移出低温恒温器的情况下,测试并开发了两种替代校准程序:(i)就地校准程序,同时测量主NRVS样品和校准样品;(ii)快速切换能量校准程序,大大缩短每次校准时间,并使频繁的能量校准成为可能。
| 图1 (一)SPring-8 BL09XU光束线示意图,其主测量室位于A级低温下,校准装置位于B级室温下(b条)BL09XU处NRVS测量柜的照片,显示阶段A和B。黄色粗箭头表示E类=14.4 keV和ΔE类≃1 meV X射线束。(c(c))原理图和横截面A级主测量室的视图(相对于光束方向)。红色条表示相对于NRVS样品的光束位置Z扫描(c(c)1、和c(c)2展开视图)和X(X)扫描(c(c)三). |
2.实验细节
2.2. 通过A级的近光
在阶段A,样品的上表面和主室的铍窗口之间有一个~1毫米的空间(Wang等。, 2012
),如图1所示(c(c)1)和1(c(c)2)
14.4keV光束的一部分可以通过阶段A的样品,另一部分可以穿过~1mm的空间到达阶段B的样品。在A和B的样品上同时进行的NRVS测量构成了一个就地校准。
图2(一)和2(b条)
显示信号电平(计数s−1)对于在几种情况下在B处测量的Fe NRVS:(i)当空的低温恒温器底座位于a级主室中时,束流通道大约有2.7 mm的空间(位置之间的黑色曲线Z一和Zd日); (ii)约有1.8 mm的空间,带有一个空的Lucite样品架(蓝色,介于Zb条和Zd日); (iii)空间减小至~0.4 mm,信号水平下降至~50%,实际[Fe4S公司4氯4]=A处的样品(红色,介于Zc(c)和Zd日). 这些尺寸通常与实际结构尺寸一致。职位Z一,Zb条,Zc(c)和Zd日与图1相同(c(c)2)
.绿色曲线显示[Fe的NRVS信号4S公司4氯4]=在A。
| 图2 (一)B处的Fe NRVS信号(黑色、蓝色和红色)与相对光束位置(Z):黑色曲线适用于空的低温恒温器底座;蓝色代表空样品架;红色代表真实样品([Fe4S公司4氯4]=)在A.LettersZ一,Zb条,Zc(c)和Zd日分别标明低温恒温器底座、样品架内底、样品顶面和真空室顶部窗口的截止线。(b条)放大(一). 酒吧Z1,Z2,Z三和Z4对于就地校准。绿线表示[Fe4S公司4氯4]=A处的NRVS信号。 |
如图1所示,A处主样本的左侧和右侧也有空格(c(c)三)
(位置1或3)。这些空间也可用于允许X射线束通过。在我们的实践中,将A级向右移动可获得最佳结果X(X)=4 mm[图1(c(c)三)
,位置1]。阶段A的高度(Z)和倾斜角度(θ)还需要对完整的光束通道进行较小的优化。NRVS测量(A处)和能量校准(B处)的位置可以来回切换[(X(X)1,Z1,θ1)
(X(X)2,Z2,θ2)]在1或2分钟内,而不是在样品更换过程中的1小时内。因此,第二个程序称为快速切换校准程序。
2.3. B级NRVS测量
在A级后面约1m处,B级被设置为使用穿过A的光束[图1(一)和1(b条)
]用于能量校准测量。B处的NRVS测量程序与A处的相同,但使用的是单元素APD。粉末57Fe或57富铁Fe2O(运行)三被用作我们新的校准测量的校准样品。B处的校准测量是在室温(RT)下进行的。
3.结果和讨论
3.3. A半成品就地校准
当NRVS测量而非能量校准成为焦点时,人们再也无法奢侈地牺牲38%的NRVS信号。在这些情况下,Z2(图2b条
)成为一个替代位置,它牺牲了~15%的NRVS信号,并且具有更弱的(350计数s−1或其最大电平的~7.5%)和噪声较大的校准信号。虽然单次扫描可能不适合跟踪逐次扫描的能量标度,但少量扫描平均光谱仍然适合能量校准。例如,如图6所示(一)
,(i)五扫描平均半就地校准光谱(红色虚线)与通过快速切换校准观察到的光谱(绿色实线)重叠良好;(ii)35.6 meV的尖峰仍然清晰。为了进一步改进统计数据,在校准过程中使用质心代替峰值位置。我们称此过程为半就地校准。
| 图6 (一)原始57使用快速切换程序(实心绿色)和半自动开关测量铁粉NRVS就地程序(使用五次扫描平均光谱,红色虚线)。X(X)1和X(X)2表示Fe 35.6 meV峰值(32–39 meV)的积分范围。(b条)57铁粉监测半就地能量天平K(K) 与时间。开放符号由单次铁扫描分析,红色实线由五次扫描平均光谱分析。 |
半就地校准过的K(K)值与一束时间的时间如图6所示(b条)
.单次扫描计算K(K)值(黑色圆圈)看起来分散,可能不反映真实值K(K)从扫描到扫描的值。另一方面K(K)从五次扫描平均光谱(红线)获得的值似乎相当稳定。单次扫描得出的数据在大约110小时的时间内变化在0.955到0.975(2.0%)之间,而五次扫描探测的值在0.957到0.973(1.6%)之间。相邻之间的最大差异K(K)值为0.4%。
这个K(K)变化趋势似乎或多或少遵循一个24h的周期。这与环境温度循环周期一致。
3.4. 快速切换校准
如上所述就地校准会牺牲NRVS测量中A处的信号电平(§3.2
)或导致B处能量校准的信号电平不佳(§3.3
). 因此,开发了一种快速切换校准程序,以在两个事件之间切换,而不改变NRVS样本。由于B处的校准样品始终处于一个温度(RT),因此从未观察到前两次扫描(使用传统校准)的系统不可再现峰值位置。因此,对于一次能量校准来说,一次扫描就足够了。通过该程序,NRVS测量和能量校准可以使用全光束通量或者。
虽然它不是就地校准方法、较少需要的校准扫描和快速切换时间将每个能量校准时间从3-4小时减少到约30分钟,因此校准间隔从72小时缩短到6小时2O(运行)三校准过的K(K)一个特定光束时间内的值如图7所示(一)
(蓝色圆圈)。总体变化在0.951和0.965之间,相差约1.4%。另一系列铁校准K(K)单独光束时间的值如图7所示(b条)
(0.948–0.958或0.8%)。使用我们所有的快速开关校准,最大校准-校准差异为0.8%(只有一种情况),平均差异为0.4%K(K)值。
| 图7 能量秤(K(K)值)用Fe获得2O(运行)三PVDOS公司(一)和Fe-PVDOS(b条)使用用于两个不同波束时间的快速切换校准过程。 |
建议间隔6小时,因为:(i)我们注意到所有间隔6小时的校准都有0.6%(而不是0.8%)的最大校准-校准差异;(ii)它将涵盖K(K)假设24小时热循环。当无法进行6小时校准时,建议采用12–18–12–18小时的交替间隔。事件,如进入单色仪室或长时间光束中断,可能会使HMR晶体的温度改变0.1°以上,并使HRM的能量标度发生百分之几的变化(K(K)). 这种效果可能需要数小时才能恢复。在恢复期间,建议进行更频繁的校准,以监测实际HRM能量。
对于普通NRVS测量,0.4-0.8%的校准精度好吗?让我们看几个例子。假设独立的铁-配体拉伸,表1
总结了一些常见的同位素位移,例如57铁-12C类/13C(卡马利语等。, 2013
),14N个/15N(Tonzetich等。, 2010
),16O(运行)/18O(执行等。, 2011
)和32S公司/36S(密特拉等。, 2011
). 图8(一)–8(c(c))
还举例说明了几个观测到的同位素在14N个/15N、,16O(运行)/18O和32S公司/36这些理论和观测到的同位素位移约为振动峰位置的3-4%。图8(d日)
说明了Fe-S中氧化还原转变的示例,即约4.6%。因此,快速开关校准非常适合观察上述光谱偏移。
57铁-N个X(X)伸展 | 57铁-碳 | 57铁-N | 57铁-O | 57铁硫合金 | 同位素(N个X(X)) | 12C类/13C类 | 14N个/15N个 | 16O(运行)/18O(运行) | 32S公司/36S公司 | ΔE类(估计) | 3.2% | 2.7% | 3.9% | 3.6% | ΔE类(观察) | 3.8% | 2.2% | 5.7% | 3.8% | | |
| 图8 典型NRVS中的各种光谱偏移:(一)的14N个/15N移位(Et4N) [铁4S公司三(否)7](Tonzetich)等。, 2010 ); (b条)的16O(运行)/18[Fe中的O位移(μ-O) (N-EtHPTB)(PhCO)]+(执行等。, 2011 ); (c(c))的32S公司/36S移入糠秕菌 铁氧还蛋白(含铁4S公司4集群)(Mitra等。, 2011 ); (d日)氧化还原转变糠秕菌 铁氧还蛋白(米特拉等。, 2011 ). |
4.总结
已成功建立了两个替代能源校准程序。这两种方法都不需要从低温恒温器中取出NRVS样品。一个就地校准程序跟踪逐个扫描的能量,最适合观察极小的光谱偏移,例如[Fe之间的0.3 meV差异4S公司4氯4]=和[X(X)铁4S公司4氯4]=.快速切换校准大大缩短了校准时间和校准间隔,并且适合于观察一般同位素或氧化还原位移,这大约是振动峰值能量的百分之几。
而铁和铁2O(运行)三适用于校准常规振动模式(例如14–54 meV下的Fe-S),几个[X(X)铁(CN)6]–(X(X)=金属)络合物被发现有助于校准高能特征(例如Fe-CO(约70 meV)。
致谢
这项工作由美国国立卫生研究院拨款GM-65440、EB-001962和美国能源部生物与环境研究办公室资助(均授予加州大学戴维斯分校的Stephen P.Cramer教授)。肯特州立大学的工作得到了NIH-NCI(SDH的1R21CA143408-01A1)的支持。经JASRI批准,在SPring-8 BL09XU处测量了NRVS光谱(提案编号:2011A/B0032和2012A/B003)。我们还感谢Cramer教授(加州大学戴维斯分校)的全面支持,感谢Ilya Sergeev博士/Aleksandr Chumakov博士(ESRF/ID18)在获得[MgFe(CN)6]=NRVS和Jiyong Zhao博士(APS 03ID)讨论HRM校准。
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