封面插图:描述四种应用变形的晶格平面法线角度变化的极点图(参见Poshadel、Dawson和Johnson,第237-244页)。这些图像说明了极点图覆盖不足如何在正确变形模式和其他合理变形模式之间引入歧义,从而固有地限制了应变张量的分量方向分辨率。
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