1.简介
X射线吸收光谱(XAS)是研究物质电子结构的成熟工具(Stöhr,1992; Rehr&Albers,2001年). 对于低-Z轴能量范围为20–1000 eV的元素或浅边,XAS公司研究往往受到表面灵敏度和真空环境的必要性的限制,例如,这使得体积敏感的测量和液体研究变得困难。另一方面,非弹性X射线散射技术(Schülke,2007)测量核心激励通过X射线拉曼散射(XRS)在此类研究中越来越受欢迎。XRS技术不是测量吸收系数,而是基于测量散射硬X射线的能量损失。这种非共振能量损失技术的优点是可以自由选择入射光子的能量,因此可以用高能X射线研究低能吸收边。这解除了软X射线研究固有的对样品环境的所有限制,并提供了对固体和液体、封闭样品环境中的系统(如高压电池)以及其他嵌入材料的体积敏感信息的访问。
X射线拉曼效应的首次报道几乎是在发现拉曼效应后立即出现的光学光谱学(戴维斯和米切尔,1928年; 米切尔,1928年)而XRS的第一个明确研究通常归功于Das Gupta(1959年, 1962)和铃木(1966, 1967). XRS和XAS公司Mizuno和Ohmura(1967)从理论上证明了光谱). 然而,由于该方法的弱点,它需要很长时间才能发挥其真正的潜力横截面XRS过程的。现在,在X射线拉曼效应发现几十年后,第三代同步辐射源和专用仪器(费斯特等。, 2006b条; Verbeni公司等。, 2009)实现了高精度的XRS测量。XRS甚至可以用作三维X射线成像中的对比机制(Huotari等。, 2011).
XRS的应用EXAFS公司这些研究首先由Tohji和Udagawa证明,他们将该技术应用于石墨)和钻石(Tohji&Udagawa,1989). 鲍伦等。(2000)以及最近的伯格曼等。(2007)将该技术应用于水和冰中氧-氧对分布函数的研究。费斯特等。(2006一)测量并计算了镁和铝的XRS-EXAFS,高出相应的约200 eVL(左)-边缘。后一项研究首次将XRS的动量转移依赖性应用于EXAFS公司并建议加强EXAFS公司动量转移增加时可以观察到振荡通过原子背景的增强。事实上,增加动量传递会导致XRS中的非偶极贡献增加,这可能会使结果分析复杂化。非偶极子贡献包含无法访问的新信息XAS、,并且被发现对于研究X射线吸收近边缘结构(XANES)(Hämäläinen等。, 2002; 冯等。, 2004, 2008; 高隆博希等。, 2006, 2007; 萨科等。, 2007; 费斯特等。, 2008; 纳格尔等。, 2009; 派尔克卡宁等。, 2010一). 到目前为止,尚不清楚XRS的动量转移依赖性是否最终有助于EXAFS公司研究。背景比例增强的好处必须与不断减小的信噪比(由于价电子背景)和分析非偶极跃迁的多激发通道的复杂性相权衡。这项工作的动机是阐明这个问题,这对未来的XRS-EXAFS研究很重要。
在本文中,我们展示了XRS在EXAFS公司光谱收集高达1.2 keV的研究能量传递最多8个原子单位(a.u.)动量传递。我们展示了康普顿剖面提取和FEFFq公司代码(大豆蛋白等。, 2005)可用于动量传递相关EXAFS公司分析获得金刚石粉末(科梅利)典型轻元素样品的准确数据等。, 1988; Tohji&Udagawa,1989年)高达10º−1.
文章安排如下。§2概述了实验细节,数据分析例程如§3所述,XRS-EXAFS的理论处理如§4所述最后,§5给出了结果和讨论.
2.方法
在非共振非弹性X射线散射(NRIXS)过程中,光子被研究中的电子系统散射,传递能量和动量并产生电子激发。当入射光子的能量远离任何电子跃迁能时,双微分横截面NRIXS的
哪里和ω是动量和能量传递从X射线到散射过程中的电子系统。(我们遵循X射线光谱学和使用原子单位贯穿始终,即 =米e(电子)=e(电子)=1,并给出能量(单位:eV)和距离(单位:Ω)。动量的原子单位是1/一0,其中一0是玻尔半径。)散射横截面分为两个因素,第一个是汤姆逊散射横截面仅取决于实验设置的来自电子的电磁辐射,
哪里()是极化矢量()是入射(散射)光子的能量,以及第页e(电子)是经典电子半径。第二个因素,称为动态结构系数(舒尔克,2007),仅包含特定于物料的信息,
它包括能量守恒允许的从多体状态的所有跃迁到,所有电子的总和j个X射线拉曼散射涉及核心电子的单粒子激发,类似于X射线吸收。转换运算符简化为偶极算符(偶极极限),得出XRS和XAS公司(舒尔克,2007). 然而,在有限问,许多非偶极子信道对频谱有贡献。
本文描述的NRIXS测量是在欧洲同步辐射设施束线ID16(Verbeni等。, 2009). 辐射由三个连续的波荡器产生,用液氮冷却的Si(111)双晶单色仪进行单色处理,并将样品聚焦到130µm×50µm(H×V)的点。样品是一颗钻石粉末(Alfa Aesar)小球,被压入铝样品架的孔中。样品的直径为2毫米,厚度为2毫米。
使用多分析光谱仪(Verbeni等。, 2009). 使用的反射级数为Si(8,8,0)和Si(10,10,0)。相应的能量范围为13–15 keV和16–18 keV,总能量分辨率分别为2 eV和4 eV(FWHM)。在测量中,入射光子能量在上述范围内扫描,散射光子能量分别保持在13千伏和16千伏。在整个实验过程中,使用有源单色器反馈系统使光束保持稳定。这被认为是可靠的数据收集和标准化在这个扩展的能量范围测量所必需的。为了寻找可能的不稳定性,特别是由于同步加速器的重新注入,重复测量光谱并相互比较。没有发现任何异常,并且单个扫描在统计准确性范围内是一致的。最后,对单个扫描进行平均。
探测器是基于Medipix2芯片(Llopart)的Maxipix混合像素探测器等。, 2002). 分析仪的焦点被引导到检测器的不同部分,并从保存的图像中分别提取。通过这种方式,光谱的动量传递依赖性也在光谱仪阵列内得到了解决。在本实验中,使用了八个分析仪晶体,散射角跨越20°,同时给出了四个不同的动量传递值。选择的光谱仪配置为=53±10°和126±10°=13 keV,126±10°=16 keV,动量传递范围为问=2.6–3.6 a.u。,问=6.0–6.5 a.u.和问=7.5–8.1 a.u.(C时)K(K)-边缘。最高问-范围用于确定后面讨论的价康普顿分布。实际EXAFS公司对前两个进行了分析问-范围。
入射能量扫描方法使光谱仪效率与能量传递。然而,入射光子通量 我0必须进行监控我0必须考虑监视器。在ID16,该监测器是一个硅pin二极管,以90°散射角(垂直散射面)观察卡普顿箔的散射。监视器的效率是总散射的组合横截面Kapton箔和硅pin二极管效率。通过在监视器之后放置另一个硅pin二极管捕获直射光束并扫描入射光子能量来校准监视器效率。直射pin二极管的电流被转换(Owen等。, 2009)光子的绝对单位−1和观察到的比率用于校正数据分析中的监控器效率。
图1(一)显示标准化十二个不同的问-实验期间测得的值。规范化例程在以下部分中进行了描述。C的实际计数率K(K)-边缘为2.3×104, 2.1 × 104和1.7×10三 计数s−1在问-值分别为3.0、6.2和7.7a.u。中的显著特征是CK(K)-285 eV的边缘和宽价电子的贡献,随着增加而分散到更高的能量转移中问.价电子的小值问代表等离子体(即价电子气体的集体激发),以及带间和带内电子-空穴对激发。有关该区域钻石的详细研究,请参阅Waidmann等。(2000). 当动量转移时能量传递,如果散射过程足够大,则可以认为散射过程非常快,以至于非弹性散射光子只探测电子的基态。在这个极限下,电子的最终状态可以被视为原子电势不变的平面波,并且在这个所谓的脉冲近似(IA)内(Eisenberger&Platzmann,1970)光谱反映了电子的康普顿轮廓(CP)。康普顿光谱学(库珀,1985, 2007; 舒尔克,2007)事实上,是一个专门研究电子系统基态动量密度的领域(Huotari等。, 2010). 在非相对论情况下,CP峰值遵循色散定律=问2/2,这解释了图1中的峰值位置.
| 图1 (一)归一化动态结构系数所有12个动量传递值。(b条)测量(粗线)和使用康普顿近似计算的三种选定动量转移的价态背景(细线)。为了清楚起见(b条)垂直偏移。 |
致谢
束流时间由ESRF提供。我们要感谢ESRF的R.Verbeni、C.Henriquet、C.Ferrero、H.Gonzalez和J.-M.Clement。TP和KH由芬兰科学院根据合同1127462提供支持,SH由赫尔辛基大学研究基金(项目490076)和芬兰科学院根据合同1256211和1254065提供支持。
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