附录A
总结MAUD公司二维同步加速器图像纹理分析的Rietveld方法
(i) 仪器。在“源”中,选择同步加速器模型,在“选项”中输入正确的波长。对于“角度校准”,选择“平面图像传输”并输入样品/检测器距离;随后细化的其他参数是图像中心和倾斜误差。对于正确的校准,重要的是首先使用具有良好定义的晶格参数的标准样品,晶体结构和微晶尺寸,并使用相同的程序来细化检测器距离、图像中心以及仪器像差(Caglioti函数),保持微晶尺寸固定,并将微应变设置为零(在PHSES下)。第2个θ偏移量参数也应该进行优化。
(ii)数据。在“数据文件”中,使用“图像管理器”输入二维16位tiff图像,以导入区域检测器数据。加载图像后,从插件菜单中选择“来自传输图像的多光谱”,设置正确的参数:采样/检测器距离、中心X(X),居中Y(Y)、积分的最大半径、起始和最终方位角、光谱数和倾斜角,以生成角度切片的积分光谱。
(iii)阶段。输入结构数据库中的晶体学数据(MAUD公司可以读取中的结构成本加保险费、运费格式晶体信息文件格式)或在图形界面上手动输入。开始时,选择无纹理(在“高级模型”中),并选择“各向同性模型”作为微观结构参数。
(iv)样品。在“位置”中,设置φ,χ和ω=0,或者如果要更改采样参考轴,请选择不同的角度。如果χ=0°,则沿入射光束方向查看极图。在我们的案例中,我们进入了χ=90°以获得旋转(倾斜)轴Y(Y)垂直于极图形平面。样本倾斜角度ω必须为每个光谱/图像分别输入“数据集”。
(v) 在“数据文件”中,仅启用一个二维图像的光谱,并细化图像中心(在仪器下,角度校准)、背景(最初只有两个参数;这可以在绘图图像上有效地交互完成,以获得近似解)和强度。现在,我们准备为一个图像细化晶格参数、结构和晶粒度。
(vi)当这些参数得到改进时,我们有了一个良好的起点。启用所有图像的所有光谱,并使用前面提到的所有参数同时对其进行细化。
(vii)为了校正倾斜时的体积和吸收,为每个倾斜角度细化“计数/监测”功能(可以在“参数列表”框架中一次对所有数据文件执行此操作)。
(viii)检查极点图覆盖率(“图形”,“极点图”),看看您选择的角度是否正确(与单个图像进行比较!)以及您的极点图是否覆盖良好。作为指导原则,请记住,较少的衍射峰需要覆盖较大的极点面积反之亦然。更强的纹理需要每个区域更多的数据点。更大的网格可以接近更平滑的纹理晶体结构减少所需的覆盖范围。
(ix)现在您可以同时优化所有参数和纹理。E-WIMV方法是定量纹理分析的首选方法。投影管半径(例如10°)和ODF分辨率(例如5°)取决于纹理的清晰度和可用的覆盖范围。在终端输出中,提供了来自实验数据的ODF覆盖的指示。如果小于100%,则需要更多数据,或者需要放大ODF分辨率和/或管投影参数。为了获得更多ODF细节,有必要增加测量数据。
(x) 视图纹理结果显示为“Graphics”和“Pole figures plot”。比较计算的极点图和实验极点图。
(xi)审查“参数列表”中的改进参数和错误。
(xii)导出在5°×5°×6°网格上插值的ODF,以便在中进行进一步处理BEARTEX公司(温克等。, 1998),例如平滑ODF,计算极点图,转换坐标系并计算多晶物理性质。
致谢
我们非常感谢能够使用ESRF和APS的同步加速器设施,在那里测量了两个样品。培根博士亲切地提供了一份鲑鱼鳞片样品。这项工作得到了NSF和DOE(CDAC)的支持。感谢C.Riekel和S.Grigull在数据收集过程中提供的帮助,以及与Gloria Ischia进行的宝贵讨论。两位审稿人的评论有助于改进手稿。
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