利用掠入射小角X射线散射（GISAXS）结合计算机断层扫描（CT）测量成功地重建了薄膜中纳米结构的空间分布图像。作为非均匀薄膜的模型样品，在硅衬底上分别由金（Au）、铂（Pt）、金/铂（Au/Pt）和铂/金（Pt/Au）纳米粒子组成的薄膜具有四个特征（F、B、S和L）。每个字符都产生了各自的二维GISAXS图像，反映了纳米颗粒结构及其在薄膜中的相关性。将GISAXS-CT技术应用于每个分量的特征散射GISAXS强度，可以独立重建每个字符的图像。此外，研究发现，即使在较高的散射强度下，也可以从非常弱的散射强度重建图案化图像q个位置和漫反射强度。这些结果表明，GISAXS-CT方法是获得详细描述颗粒大小、形状和表面粗糙度的清晰重建图像的有力工具。
