封面插图:(前景)由GaN核和InGaN壳组成的纳米线测量的一组互反空间地图。(背景)纳米线的扫描电子显微镜图像。由Stankevic提供等。 [J.应用。克里斯特。(2015),48, 344-349].
结果表明,嵌入均匀基质中的稀组纳米颗粒的熔化和冻结温度只能通过小角度X射线散射(SAXS)技术进行实验测定。根据SAXS强度的温度依赖性分析,具有平均半径〈的稀铅纳米颗粒的熔化和冻结温度R(右)嵌入硼酸铅玻璃中的〉=16.1 nm,分别测定为580 K和433 K。