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介绍了一种新的衍射技术，通过使用固态探测器（SSD）和白色同步辐射收集角色散数据，用于角度色散和能量色散结构的组合分析和细化（CAESAR）。通过在有限的2θ范围内逐步扫描校准良好的SSD，一系列一维能量色散数据（强度与能量）是2θ的函数。整个强度（Int）数据集由数千个通道组成，覆盖一系列光子能量，E类（高达～150 keV），在每一个～1000 2θ台阶处，形成一个2–4百万元素的二维阵列，Int(E类, 2θ). 然后根据光子能量对这些强度数据进行重新分组，光子能量在多通道SSD中定义为单个通道，产生大量强度与2θ（角离散）数据集，Int(E类=常数。，2θ），每个对应于给定的光子能量或波长。整个数据集、选定子集或复合扫描可用于多个数据集Rietveld细化。收集的α-Al数据2哦三使用Rietveld技术，通过不同的数据处理方案，分析了环境条件下以及MgO和Au混合物在高压下的（NIST衍射标准）。此外，还证明了某些能带内的数据（ΔE类/E类=±10%）可以组合在一起，以改进复合角散射扫描中的计数统计，即使是以0.1或0.2°的更粗扫描步骤进行采集。该技术适用于高压和通用粉末衍射研究，这些研究使用同步辐射限制X射线进入样品。讨论了几个优点。
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