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应用
结晶学

第25卷| 第2部分

国际标准编号：1600-5767

1992年4月发行

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国际晶体学联合会

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编辑。的新节晶体学报

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研究论文

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强声场中X射线衍射法测定晶体缺陷

E.佐洛托亚布科,一、波利卡波夫,V.帕诺夫和D.施瓦尔科夫

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用顽固的反射列表进行单晶衍射分度

A.J.M.杜伊斯伯格

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能量色散粉末衍射的整体模式拟合

V.Honkimäki公司和P.苏尔蒂

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用能量色散粉末衍射法测定热运动参数

V.Honkimäki公司和P.苏尔蒂

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X射线线剖面拟合的基本参数方法

R.W.Cheary先生和A.科埃略

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β-二硅化铁（β-FeSi）中的平面缺陷₂)透射电镜分析与建模

Y.Zheng先生,A.塔科恩和J.F.彼得罗夫

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根据镜面反射率数据确定表面散射长度密度剖面的模型依赖性

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商业区域探测器的经验：“买方”的观点

K.L.克劳斯和G.N.菲利普斯Jnr

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生物分子中子散射研究的新极化靶：脱铁蛋白和核糖体氘化50S亚基的首次结果

W.Knop公司,M.Hirai先生,H.-J.辛克,H.B.斯图尔曼,R.Wagner（瓦格纳）,J.赵,O.Schärpf公司,R.R.克莱顿,M.Krumpolc先生,K.H.尼尔豪斯,A.里杰拉德和T.O.尼尼科斯基

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分子替换实际空间平均

M.G.Rossmann先生,R.麦肯纳,L.Tong先生,D.夏,J.戴,H.Wu先生,香港崔和R.E.林奇

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惯性等效椭球体：原子结构与小角度X射线散射测定的小球蛋白低分辨率模型之间的联系

J.J.米勒和H.施劳伯

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ADONE摆动器设施的X射线衍射站：初步结果（包括晶体完善性）

M.科拉皮埃罗,G.卡布奇奥,C.马西安特,A.皮费里,R.斯帕尼亚和J.R.海利维尔

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基于劳厄方法的自洽标引方案用于单晶的相位识别

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铅氧化物的缺陷与共生

Y.G.Wang（王）,叶海强,K.H.Kuo先生和郭敬国

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用X射线晶体学和质谱法解决蛋白质序列模糊性

L.J.基夫,E.E.拉特曼,C.沃尔科夫,A.伍兹,M.Chevrier先生和R.J.科特

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布拉格衍射光学的透镜方程。不对称反射的一般情况

F.N.丘霍夫斯基和M.Krisch先生

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晶体结构的Logiciel de génération et représentation de structures

A.索耶和A.里姆斯基

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统计介质的多次小角度散射

S.Mazumder公司和A.塞奎拉

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根据粉末衍射数据确定准确强度。I.采用最小二乘法进行整体图案拟合

J.詹森,R.佩沙尔和H.申克

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根据粉末衍射数据确定准确强度。二、。重叠反射强度的估计

J.詹森,R.佩沙尔和H.申克

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能量色散X射线散射仪

J.S.里德和S.G.克拉克森

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在Rietveld分析中使用CPS120（覆盖120°的弯曲位置灵敏探测器）粉末衍射数据。沸石中的脱水过程

K.斯特尔和R.托马森

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用于定量纹理分析的迭代级数展开法。二、。应用

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单色W的康普顿散射实验K（K）α₁辐射

S.Manninen公司,V.Honkimäki公司和P.苏尔蒂

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KTP（KTiOPO）的X射线衍射研究₄)静电场下的晶体

M.T.塞巴斯蒂安,H.克拉珀和R.J.螺栓

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分子置换技术的快速刚体细化

E.E.卡斯特拉诺,G.奥利瓦和J.纳瓦扎

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估算d日_最小值, λ_最小值和λ_最大值从劳厄模式的日珥投影

D.W.J.克鲁克申克,P.D.卡尔和M.M.哈丁

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利用劳厄衍射图样的gnomonic投影确定单位-细胞参数

P.D.卡尔,D.W.J.克鲁克申克和M.M.哈丁

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短通信

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混合K中德拜温度的浓度依赖性_x个卢比_1−x个氯

J.巴希尔,M.M.Beg先生,N.M.巴特,Q.H.汗和纳西尔·汗

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计算机程序

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SIRPOW公司.91-针对粉末数据优化的直接方法包

G.卡斯卡拉诺,L.法维亚和C.贾科瓦佐

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一种新的非公度结构求精算法

W.A.Paciorek公司和G.查普斯

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实验室札记

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大分子晶体在毛细管中的浸泡

莱比奥达和E.张

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刽子手：一种大分子悬浮滴蒸汽扩散技术

J.R.勒夫特和G.T.德提塔

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计算机程序摘要

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改革-一个从大分子结构中操作晶体学坐标的交互式程序

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OMITMAP公司用于UNIX

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XFPS系统-用Patterson、Fourier和叠加方法自动求解晶体结构的程序。最近的事态发展

F.Pavelík,J.西夫,C.里佐利和G.D.安德列蒂

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晶体学家

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结晶仪

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笔记和新闻

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ECM-14期间牛津冷冻系统奖

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国际晶体学联合会

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埃瓦尔德奖提名

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新的商业产品

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