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应用
结晶学

第20卷| 第5部分

国际标准编号：1600-5767

1987年10月发行

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研究论文

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硅酸三钙干凝胶多孔分形结构的SAXS研究

A.F.克雷耶维奇

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用于表面X射线衍射的五圆衍射仪的角度计算

E.弗利格,J.F.范德文,J.E.麦克唐纳和M.米勒

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从单个振荡照片中确定随机放置晶体的方向

G.弗里德和M.G.Rossmann先生

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等间距成像X射线地形图

T.石川,T.Kitano（北野）和J.松井

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肌钙蛋白C溶液的X射线散射及其哑铃状分子模型解释

T.藤泽,T·尤基,伊诺科和M.Kataoka先生

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Durbin–Watson的使用d日Rietveld分析中的统计

R.J.希尔和H.D.Flack公司

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水溶液中样品小角度中子散射的溶剂背景扣除

P.H.斯托哈特

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自动化蛋白质结晶实验

M.J.考克斯和P.C.韦伯

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单色发散光束X射线衍射形貌在畸变晶体研究中的应用

M.Polcarová和J.布雷德勒

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用于单晶X射线衍射的金刚石卷边高压电池

马林诺夫斯基

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成像比例计数器在高分子晶体学中的应用

A.J.霍华德,G.L.吉利兰,B.C.芬泽尔,T.L.普洛斯,D.H.Ohlendorf博士和F.R.萨勒姆

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一种用于定位几乎相同蛋白质结构之间微小差异的向量平均方法

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利用同步辐射粉末衍射数据细化简单晶体结构

G.威尔,N.Masciocchi（马西奥奇）,W.帕里什和M.哈特

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叠加粉末反射的处理：在膜蛋白中子衍射分析中的应用

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磷在高压和高温下相变的同步辐射研究

T.基克加瓦,H.岩崎,藤村T,S.远藤,Y.Akahama先生,T.阿凯,O.岛村,T.八木,S.秋本和一、Shirotani

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利用冷中子源TOF中子衍射获得的粉末图形的Rietveld分析

F.伊祖米,H.浅野,H.村田和N.Watanabe公司

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Soller准直法分辨小角度散射

D.F.R.米尔德纳和J.M.卡彭特

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短通信

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会聚束电子衍射法测定Al-Fe-Si两相的晶体对称性

P.刘和G.L.邓洛普

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异常值正常向下加权的数据平均

R.H.祝福和D.A.兰斯

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弹性弯曲硅晶体作为热中子单色器的实验测试

P.米库拉,P.Lukáš和R.米查莱克

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计算机程序

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衍射峰形状：一种用于低分辨率粉末图的轮廓细化方法

V.交易和A.布列昂

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CRYSRULER公司个人计算机晶体结构分析计算机程序集成系统

C.里佐利,V.桑格马诺,G.加里斯坦尼和G.D.安德列蒂

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从简单电子衍射斑图评估取向关系的计算机程序

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透射电子显微镜痕量分析的计算机程序

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用于PC型台式计算机的多层程序

D.F.林奇和L.C.秦

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实验室札记

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微型Peltier效应测角头附件

U.W.阿恩特和S.J.Stubbings公司

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计算机程序摘要

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易于修饰、X射线粉末衍射细化程序

J.L.高蒂埃,S.萨帕塔和J.奥尔蒂斯

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晶体学家

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结晶仪

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新的商业产品

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新的商业产品

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书评

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可调谐固体激光器II由A.B.Budgor、L.Estrowitz和L.G.De Shazer编辑

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收到的书籍

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材料X射线表征的最新进展由P.Krishna编辑

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