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该研究被引用于:
第条
物联网驱动的先进电阻抗层析成像实验框架
ECS固体科学与技术杂志
10.1149/2162-8777/ad2331
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一种新的基于GUI的EIT成像技术图像重建算法
拉梅什·库马尔(Ramesh Kumar),沙申克·特里帕西(Shashank Tripathi)
来源标题:
国际认知信息学与自然智能杂志(IJCINI)
15(3)
版权:
© 2021
|
体积:
15
|
问题:
三
|
页:
16
国际标准编号:
1557-3958
|
EISSN公司:
1557-3966
|
EISBN13:
9781799859840
|
内政部:
10.4018/IJCINI.20210701.oa3号文件
引用文章
引用文章
MLA公司
库马尔、拉梅什和沙申克·特里帕西。
“EIT成像技术中一种新的基于GUI的图像重建算法。”
IJCINI公司
2021年第15卷第3期:第31-46页。
http://doi.org/10.4018/IJCINI.20210701.oa3
亚太地区
Kumar,R.和Tripathi,S.(2021年)。
一种新的基于GUI的EIT成像技术图像重建算法。
国际认知信息学与自然智能杂志(IJCINI),15
(3), 31-46.
http://doi.org/10.4018/IJCINI.20210701.oa3
芝加哥
库马尔、拉梅什和沙申克·特里帕西。
“基于GUI的EIT成像技术图像重建新算法,”
国际认知信息学与自然智能杂志(IJCINI)
15,3号:31-46。
http://doi.org/10.4018/IJCINI.20210701.oa3
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摘要
电阻抗断层成像(EIT)是一种非侵入性技术,用于通过物体的边界数据估计医疗或非医疗物体的电气特性。
它用于通过测量电导率和阻抗参数来实现不同物体的功能成像。
本文提出了一种基于MATLAB软件平台开发的图形用户界面(GUI)的图像重建算法。
EIT成像算法由正问题和反问题组成。
正问题由电导矩阵表示,并使用非迭代反演方法估计电导分布。
图像显示和数据分析直接在GUI中实现和控制。
通过数值模拟和模型实验,通过定量参数评估了所提算法和其他先前研究数据的性能。
所得结果与其他EIT成像算法相比,结果令人满意,具有可比性。
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