确定闪存解决方案样本大小的自适应测试

摘要

闪存解决方案（如嵌入式多媒体卡、安全数字卡和固态驱动器）的嵌入式系统测试，尤其是长期可靠性测试，涉及与测试样本大小相关的战略决策，以实现高测试覆盖率。测试样本大小是测试中使用的闪存设备数量。早些时候，测试周期和可使用的测试设备数量存在物理限制。因此，由于缺乏明确定义的标准，有关样本量的决定取决于人类测试人员的经验。此外，由于对样本大小的重要性缺乏了解，导致了意外用户场景导致的字段缺陷。在最坏的情况下，用户在几年后终于发现了这些缺陷。在本文中，我们提出，如果在闪存解决方案的长期可靠性测试中使用足够大的测试样本大小来针对弱特征，则可以检测到大量潜在的场缺陷。一般来说，较大的测试样本量会产生更好的结果。然而，由于物理资源的可用性有限，可以使用的测试样本大小受到了限制。在本文中，我们通过提出一种自适应的可靠性测试方案来解决这个问题，以确定有效的长期可靠性测试的样本量。

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