第17卷，4期
第17卷 第4期，1127–1500 第3757–1126期 第2期，379–756 第1期，1–377
第16卷，10期
第16卷 第10期，2241–2494 第9期，1989–2240 第8期，1745–1988 第7期，1485–1744 第6期，1289–1483 第5期，1089–1288 第4期，891–1088 第3期，613–890 第2期，309–612 第1期，1-308
第15卷，8期
第15卷 第8期，1861–2108 1617-1859年第7期 第6期，1375–1616 第5期，1131–1373 第4期，891–1130 第3期，567–890 第2期，273–566 第1期，1–272
第14卷，8期
第14卷 第8期，2327–2651 第7期，1977–2326 第6期，1671–1976 第5期，1333–1669 第4期，985–1332 第3期，667–984 第2期，323–666 第1期，1–322
第13卷，8期
第13卷 第8期，2259–2480 第7期，1955–2257 第6期，1605–1954 第5期，1269-1603 第4期，945–1268 第3期，627–944 第2期，317–625 第1版，1–316
第12卷，8期
第12卷 第8期，1891–2146 第7期，1643–1890 第7期，1397–1644 第6期，1397–1642 第5期，1149–1396 第4期，867–1148 第3期，605–866 第2期，259–604 第1期，1–258
第11卷，8期
第11卷 第8期，1841–2148 第7期，1587–1839 第6期，1343–1586 第5期，1083–1342 第4期，813–1081 第3期，555–812 第2期，263–553 第1期，1–261
第10卷，8期
第10卷 第8期，1793–2041 第7期，1539–1791 第6期，1285–1538 第5期，1017–1284 第4期，757–1015 第3期，513–756 第2期，253–512 第1期，1–252
第9卷，第8期
第9卷 第8期，1772–2050 第7期，1523–1772 第6期，1285–1522 第5期，1019–1283 第4期，773–1018 第3期，515–772 第2期，259–514 第1期，1–257
第8卷，8期
第8卷 第8期，1807–2055 第7期，1541–1805 第6期，1289–1539 第5期，1025–1288 第4期，765–1023 第3期，513–764 第2期，257–511 第1期，1–255
第7卷，8期
第7卷 第8期，1713–2027 第7期，1464–1712 第6期，1237–1464 第5期，1027–1236 第4期，771–1026 第3期，529–770 第2期，267–527 第1期，1–266
第6卷，8期
第6卷 第8期，1793–2048 第7期，1535–1791 第6期，1243–1533 第5期，1001–1242 第4期，751–1000 第3期，515–750 第2期，257–514 第1期，1–256
第5卷，5期
第5卷 第5期，887–1173 第4期，705–885 第3期，423–703 第2期，219–422 第1期，1–218
第4卷，共5期
第4卷 第5期，639–795 第4期，499–638 第3期，369–497 第2期，191–367 第1期，1–190
第3卷，第4期
第3卷 第4期，359–489 第3期，227–358 第2期，109–225 第1期，1–108
第2卷，第3期
第2卷 第3期，261–366 第2期，119–259 第1期，1–81
第1卷，第3期
第1卷 第3期，267–379 第2期，127-266 第1期，1–126
卡尔德龙逆电导问题的不适定性，导致电阻抗断层成像（EIT）的低空间分辨率推动了混合成像技术的发展通过与第二种物理类型耦合来弥补这种分辨率不足波，通常由双曲线PDE建模。我们在二维中显示如何仅使用EIT数据，将奇异点传播用于复杂情况用于有效检测内部跳跃和其他奇异点的主类型PDE电导率。Astala和帕伊瓦里塔(安。数学。(2)163：1（2006），265–299)允许我们利用复杂的主型几何学是问题的基础，并表明玻恩级数中的主导项是可逆非线性广义氡电导率的转换。所有高阶项的波前集可以是特征化的，并且在先前的情况下，一些精细的描述是可能的。我们现在数值表明该方法对检测内部夹杂物是有效的夹杂物。
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