离散数学的进展与应用
第39卷第2期第209-219页(2023年8月) http://dx.doi.org/10.17654/0974165823048 |
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图构成中的支配缺陷
Aldwin T.Miranda和Rolito G.Eballe
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摘要: 让是一个简单的连通序图n个带支配数然后让A类k个-控制缺陷集G公司是非空集合基数这样的话是以下子集中的最小值包含顶点。中的最小顶点数G公司其未终止于S公司表示为本文给出了由合成乘积引起的图的控制缺陷的结果连通图的G公司和任何图形H(H)特别是k个-控制缺陷集具有特征并且已确定。
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关键词和短语: k个-控制缺陷,最小控制集,图的合成。
收到:2023年4月28日;修订过的:2023年5月20日:认可的:2023年6月8日;出版:2023年6月30日
如何引用本文:Aldwin T.Miranda和Rolito G.Eballe,图构成中的支配缺陷,离散数学的进展与应用39(2)(2023),209-219。http://dx.doi.org/10.17654/0974165823048
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