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测量并行处理器性能

出版:1990年5月1日出版历史
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摘要

许多指标用于衡量在并行处理器上运行的并行算法的性能。本文介绍了一种新的度量方法,它比其他度量方法具有一些优势。它的使用通过Linpack基准报告和Gordon Bell奖得主的数据进行了说明。

参考文献

  1. 1阿姆达尔。G.M.Validitv,《实现大规模计算机能力的单处理器方法》,s.In Prot’t’c,AFIPS Spring联合计算机会议。30.大西洋城,NIL 1967。谷歌学者谷歌学者
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  3. 扁平。H.P.和Kenileclv。K.并行处理器的性能。平行计算12,(1989年10月),'1-20。谷歌学者谷歌学者交叉引用交叉引用
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索引术语

  1. 测量并行处理器性能

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          评论

          托马斯·理查兹

          Karp和Flat研究了一种测量并行处理器性能的替代方法。它们定义了一个序列分数度量,并表明它提供了其他常用度量未显示的信息,包括运行时间、性价比、加速和效率。本文概述了这些方法。然后,作者将实验测定的序列分数与上述指标进行比较,并将其作为诊断工具进行评估。提供的参考文献数量有限。不了解情况的读者可以理解本文,但对并行处理器性能感兴趣的读者也会发现它很有价值。

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          • 发布于

            ACM的封面图像通信
            ACM通信 第33卷第5期
            1990年5月
            104页
            国际标准编号:0001-0782
            EISSN公司:1557年-7317年
            内政部:10.1145/78607
            • 编辑:
            • 彼得·J·丹尼
            期刊目录

            版权所有©1990 ACM

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            出版商

            计算机协会

            美国纽约州纽约市

            出版历史

            • 出版:1990年5月1日

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