Durst,F.、Fischer,M.、Jovanovic´,J.和Kikura,H.(1998年9月1日)。“建立和研究低雷诺数、充分发展的湍流平面通道流的方法”,ASME。J.流体工程1998年9月;120(3): 496–503.https://doi.org/10.115/1.2820690
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在低雷诺数下研究了充分发展的平面湍流道流动的跳闸,得出了独立于初始条件的独特流动特性。LDA测量技术用于获得整个横截面上可靠的平均速度、湍流速度波动的均方根值以及偏度和平整系数,重点是近壁区域。将实验结果与文献中直接数值模拟获得的数据进行了比较。数据分析表明,上游条件对水流发展具有重要作用。结果表明,只有在通道进口处显著切断流动,才能达到低雷诺数下充分发展的湍流状态。详细讨论了与LDA测量控制体积的有限尺寸和近壁速度测量中估算壁面剪应力的不准确度有关的影响,因为这些可能会在测量结果和模拟结果之间产生系统差异。
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