A multiple-common-lines method to determine the orientation of snapshot diffraction patterns from single particles

Zhou, L.; Zhang, T.-Y.; Liu, Z.-C.; Liu, P.; Dong, Y.-H.

doi:10.1107/S2053273314007049

确定单粒子快照衍射图样取向的多重共线性方法

L.Zhou（L.周）,T.-Y.Zhang先生,Z.C.刘,P.刘和Y.-H.Dong先生

随着X射线自由电子激光器（XFEL）的发展，利用相干X射线衍射成像来确定非晶体物体的三维结构成为可能。在这种衍射和破坏模式下，从同一物体上获得许多快照衍射图案，这些物体以随机方向呈现在XFEL光束上。确定单个物体的方向对于重建三维结构至关重要。这里提出了一种新的方法，称为多重共线性方法，用于确定高信号和低信号快照衍射图案的方向。高、低信号模式恢复方向（α、β、γ）的平均误差分别约为0.14、0.06、0.12和0.77、0.31、0.60°；这两组误差都能满足三维结构重建的要求。

关键词：多共线法;单粒子成像;相干X射线衍射成像;X射线自由电子激光器（XFEL）.

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