透镜耦合间接X射线成像探测器具有分辨率高和探测效率低的优点。使用较厚的单晶膜（SCFs）可以提高检测效率。然而，由于点扩散函数（PSF）和调制传递函数（MTF）的退化，图像质量会变得更差。利用未知的PSF反褶积可以改善这一缺点。本文在模拟透镜耦合间接X射线成像探测器成像过程的基础上，建立了一种获取PSF的方法。由于商用透镜的结构参数通常无法获得，因此PSF是根据透镜性能参数计算的。使用12 keV X射线能量、10倍和40倍放大物镜以及4.6µm和20µm厚GGG:Tb闪烁体条件计算PSF。然后使用这些图像对在相同条件下拍摄的Xradia分辨率测试图案的图像进行去卷积。结果表明，对于4.6µm和20µm厚的SCF，反褶积后的MTF都得到了明显改善，表明图像质量比反褶积前更好。此外，对小鼠脑组织投影图像进行PSF反褶积，并使用原始投影图像和反褶缩投影图像进行计算机层析重建；结果表明，该方法对改善低对比度样品的图像质量是有效的。因此，该方法在允许使用厚SCF来提高检测效率的同时保持良好的图像质量方面显示出良好的前景。
