利用时间分辨X射线衍射（TXRD）研究了超短激光脉冲在Ge晶体中[111]和[100]方向的应变传播。通过分析应变晶面上的TXRD信号，得出了应变传播速度。使用开源代码对Takagi–Taupin方程进行数值积分，这为估计应变传播速度提供了一种非常简单的方法。本方法将特别适用于相对较宽的光谱带宽和弱X射线源，其中在相关声子频率下衍射X射线强度的时间振荡将不可见。Ge样品的两次Bragg反射，即。111和400给出了两种不同深度的应变传播信息，因为这两种反射的X射线消光深度不同。飞秒激光激发引起的应变的传播速度与纵向声速相当。应变传播速度随激光激发通量的增加而增加。应变传播速度的这种通量依赖性可归因于双极性载流子扩散对晶体的加热。锗是一种很有希望的硅基光电子学候选材料，本研究将增进对超快激光脉冲诱导锗中载流子扩散热传输的理解，这将有助于光电子器件的设计。
