Measurement of single-crystal piezo modulus by the method of diffraction of synchrotron radiation at angles near π

Gureva, P.V.; Marchenkov, N.V.; Artemev, A.N.; Artemiev, N.A.; Belyaev, A.D.; Demkiv, A.A.; Shishkov, V.A.

doi:10.1107/S1600576720005154

用同步辐射近π角衍射法测量单晶压电模量

P.V.古雷瓦,N.V.马尔琴科夫,A.N.阿特梅夫,N.A.阿特米耶夫,A.D.贝利亚耶夫,A.A.德姆基夫和V.A.希什科夫

本文介绍了压电模量的测量d日₁₁硅酸镧镓单晶（LGS，La_三镓₅二氧化硅₁₄). 压电模量是在接近后向散射的角度通过X射线衍射测量的。这种方案的实验对外部影响（恒定或交变电场、机械载荷、温度变化）引起的晶体晶格常数的相对变化非常敏感等指出了该技术的发展机遇，评价了其适用性，讨论了同步辐射近π角衍射法测量LGS单晶压电模量的结果。

关键词：晶体结构;晶格常数变化;π附近角度的衍射;同步辐射;压电晶体;压电模量.

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