C.卡米娜,M.斯特罗布,T.明尼蒂,P.波伊拉特,J.霍文德,M.Morgano先生,T.Holm杆,E.Polatidis公司,J.瓦尔塞奇,D.曼内斯,W.科克曼和A.凯斯特纳 本文介绍了由镍、铁、钛、铅、铜和铝等几种多晶材料制成的参考样品的4D波长分辨率中子层析成像。使用飞行时间透射成像方法在ISIS脉冲中子源的IMAT束线处获取数据。使用滤波反投影计算波长色散层析成像重建，允许对重建的样本体积中的每个体素进行波长分辨的总截面检索。讨论了进行背景校正以获得定量结果和分析的必要性，并对获得的Braggedge图案质量的3D空间分辨率进行了研究。
