镶嵌晶体的能量分辨中子透射包含一系列强度下降，具体的中子波长由中子束中样品的方向确定。本文介绍了在散裂脉冲中子源上进行的镶嵌晶体中子透射实验的Rietveld型全谱分析。所提出的分析提供了晶格参数、镶嵌性、消光因子和晶体取向的精确而简单的测定，特别适合于研究这种微观结构信息在宏观样品中的空间变化 毫米分辨率。消光对布拉格反射强度的影响已通过测量布拉格反射引起的光束衰减与吸收和散射过程引起的组合衰减之比的参数得到了成功的解释。在英国ISIS设施的ENGIN-X光束线上，对几种天然和人造镶嵌晶体进行了实验，包括温度在55至300之间的铜单色仪 K、 铁镍陨石和天然黄铁矿晶体。晶格参数和镶嵌度的典型实验分辨率分别为0.03和7%。讨论了对由几个晶粒或相组成的试样进行定量相和/或织构分析的技术的可能性。
