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为了解决同步加速器束线上二维X射线探测器的定量和一致性评估问题,综述了X射线面积探测器的表征方法。它基于一组最小但完整的成像参数的定义,能够描述任何类型的二维探测器,无论其工作范围、应用领域和检测原理如何。对每个参数的测量和推导方法进行了审查。成像参数在很大程度上可以直接用于评估探测器在任何科学应用中的性能。成像表征旨在帮助二维探测器开发人员和二维探测器用户根据定量参数定义或选择最适合给定应用的设备。

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