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J.同步辐射。
(2005).
12
,
467-472
https://doi.org/10.107/S0909049505010630
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利用位置敏感像素探测器提高高分辨率X射线光谱仪的性能
S.霍塔里
,
Gy.Vankó
,
F.阿尔贝加莫
,
C.蓬切特
,
H.格拉夫斯马
,
C.亨利奎特
,
R.Verbeni公司
和
G.摩纳哥
提出了一种利用位置敏感二维像素探测器消除切块分析晶体分辨率函数中立方尺寸效应的色散补偿方法。
为了进行演示,使用基于1 m罗兰圆的光谱仪和近后向散射几何形状的切块Si(555)分析仪晶体,布拉格角为88.5°,获得了23 meV的分辨率。
在这种几何结构中,配有传统位置不敏感探测器的光谱仪提供190 meV的分辨率。
因此,色散补偿方法可以在不损失信号强度的情况下大幅提高分辨率。
关键词:
X射线光谱仪
;
切块分析仪晶体
;
位置敏感探测器
.
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