Lattice imaging in low-angle and high-angle bright-field scanning transmission electron microscopy

Asano, E.; Hashimoto, I.; Kikuchi, Y.; Kotaka, Y.; Nakanishi, N.; Okunishi, E.; Watanabe, K.; Yamazaki, T.

doi:10.1107/S0108767304020288

低角度和高角度明场扫描透射电子显微镜中的晶格成像

渡边捷昭,Y.菊池,山崎T.Yamazaki,E.浅野,N.Nakanishi公司,Y.Kotaka先生,E.Okunishi公司和一、桥本

实验获得了[011]取向Si的原子分辨率低角度明场（LABF）扫描透射电子显微镜（STEM）图像和高角度亮场（HABF）STEM图像，以及高角度环形暗场（HAADF）STEM图像。将LABF STEM和HABF STEM图像的对比度形成机制与HAADF STEM图像进行比较。与离焦和厚度无关的HABF STEM图像具有与HAADF STEM相比的空间分辨率，并显示为在局域布洛赫波的非色散近似下的简单卷积。

关键词：亮场;扫描透射电子显微术;Bethe方法.

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