High-resolution powder diffraction studies of copper(II) oxide

Langford, J.I.; Louër, D.

doi:10.1107/S0021889890012092

氧化铜的高分辨粉末衍射研究

J.I.朗福德和D.卢埃尔

高分辨率粉末衍射与全谱拟合技术相结合，揭示了氧化铜（II）样品的罕见且迄今未报告的衍射效应。数据是通过传统衍射仪和严格单色铜获得的Kα₁辐射和达斯伯里实验室同步辐射源（9.1 HRPD）。研究发现，大多数谱线都有不同程度的向高角度或低角度倾斜，并且有少量谱线展宽，这主要是顺序相关的。结果表明，线轮廓不对称性在整个倒易空间中系统地变化，并且影响的大小取决于样本。没有检测到显著的峰值位移，但线的偏斜与晶胞尺寸的分布以及Cu-O键长的分布一致。

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