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早些时候提出的四圈X射线衍射仪仪器功能模型[Chulichkov等人。(1987).克里斯托洛拉菲亚,32,1107–1114]通过引入晶体镶嵌来补充。该改进模型用于开发一种重建镶嵌函数轮廓的方法(f)(ω)根据实验强度分布(ω)在衍射仪上测量。该方法包括对实验数据的简化(ω)如果在衍射仪上测量,其仪器功能接近δ功能。建议的确定方法(f)(ω)在具有位错密度的硅晶体上进行测试N个d日= 3 × 1010和2×1011−2.
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