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J.应用。
克里斯特。
(1987).
20
,
383-387
https://doi.org/10.107/S0021889887086436
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成像比例计数器在高分子晶体学中的应用
A.J.霍华德
,
G.L.吉利兰
,
B.C.芬泽尔
,
T.L.普洛斯
,
D.H.Ohlendorf博士
和
F.R.萨勒姆
被称为成像比例计数器的多丝正比室用于收集X射线强度数据,以通过分子替换或差分傅里叶分析确定几种结构,并为许多其他大分子晶体项目提供了数据。
用安装在旋转阳极X射线发生器上的成像比例计数器获得的结果表明,该探测器产生准确的强度信息,并且其可靠性很高。
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