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被称为成像比例计数器的多丝正比室用于收集X射线强度数据,以通过分子替换或差分傅里叶分析确定几种结构,并为许多其他大分子晶体项目提供了数据。用安装在旋转阳极X射线发生器上的成像比例计数器获得的结果表明,该探测器产生准确的强度信息,并且其可靠性很高。
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