Correction for escape in X-ray spectra measured using a Ge detector

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结晶学

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用锗探测器测量的X射线光谱中逃逸的校正

用锗探测器测量的X射线光谱可以进行逃逸校正。已经实施了执行校正的数值程序。该方法采用逐点减法，并考虑到与能量相关的检测器分辨率。

遵循J.Appl。克里斯特。

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