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本文介绍了一种高分辨率能量色散衍射仪,它使用同步辐射源和扫描沟道切割硅晶体。用BaTiO粉末样品证明了该技术剖面分析表明Anliker、Brugger和Känzig报告的反常颗粒尺寸效应[Helv公司。物理学。学报(1954),27, 99-124].
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