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J.应用。克里斯特。(2013).46,1645-1653
https://doi.org/10.107/S0021889813024527
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Aging-时间分辨就地用二维探测器X射线衍射研究铜基镀锡膜的微观结构

J.斯坦因,U.韦尔泽尔,W.Huegel公司,S.布拉特和E.J.Mittemeijer公司
通过以下方法研究了在铜衬底上电镀的纯锡薄膜就地室温老化期间的X射线衍射分析，使用配备二维探测器的实验室衍射仪。使用所采用的衍射方法，可以观察并追踪锡膜中单个锡颗粒的衍射斑点。对于沉积样品，观察到锡反射斑点的位置和强度发生了显著变化，以及其他衍射斑点的突然出现和消失。这可能归因于薄膜中的局部微观结构变化，例如晶粒旋转、晶粒生长和晶粒溶解。与沉积样品相比，所谓的后烘烤样品(即层沉积后在423K退火1h）显示出稳定的微观结构。讨论了所得结果与锡晶须生长现象的相关性。
关键词：锡晶须;爬行;二维X射线衍射;谷物旋转;晶粒长大.
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