为了研究X射线衍射线轮廓中的应变展宽，构建了拉伸金属箔的声强计。该装置设计用于粉末衍射仪，并在Daresbury实验室的2.3站进行了测试就地在压力下对样品进行测量。它可以用于使用对称或非对称衍射几何的传输或反射模式中的数据采集。作为测试案例，使用对称反射和对称透射衍射对18µm厚的应变水平高达5%的铜箔进行了测量。所有衍射曲线均显示出峰加宽和不对称性，且随着应变的增加而增加。使用基本参数法分析测量轮廓托帕斯峰值拟合软件。所有观察到的展宽轮廓都是通过卷积精细的衍射轮廓来建模的，代表位错和晶粒尺寸展宽，并使用高质量的LaB预先确定固定的仪器轮廓6参考粉末。反褶积过程产生了“纯”样本积分宽度和不对称结果，显示出对外加应变的强烈依赖性，并且几乎随外加应变线性增加。假设微晶尺寸加宽与f.c.c引起的位错加宽相结合。一/2<110>{111}位错，提取了力学性能随应变的变化。峰不对称和展宽的观察被解释为细胞结构的表现，细胞壁和细胞内部具有高和低位错密度。
