Quantitative Rietveld texture analysis of zirconium from single synchrotron diffraction images

从单次同步辐射衍射图像定量分析锆的Rietveld织构

随着德拜环的强度变化，在同步辐射衍射图像上可以立即看到首选方向。在本报告中，应用Rietveld方法从单个同步辐射衍射图像的分析中获得关于取向分布的定量信息。研究了六方冷轧锆的方法就地在重结晶开始之前和之后，在真空炉中使用高能X射线。

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