本文报道了X射线六光束（000，220，242，044，-224，-202）衍射在大厚度理想硅晶体中的计算机模拟，其中超传输效应占主导地位，即对于8keV的X射线光子能量，约为2cm或更多。计算了二维狭缝实验中获得的平面波角度依赖性和六光束截面形貌。根据Ewald理论，通过特征值问题计算角度相关性。截面拓扑图是通过从角度到实际空间的快速傅里叶变换过程计算出来的。结果表明，在X射线超传输效应下，光电吸收的四极部分和康普顿散射对最小吸收系数有明显贡献。通过测量有效吸收系数，对实验结果和理论结果进行了比较。厚晶体的截面形貌是不对称的和偏振敏感的。这些性质通过角度依赖性和静止相位方法进行了解释。
