低温冷却是X射线数据采集过程中常用的一种技术，用于减轻二次辐射对大分子的损伤。样品吸收的X射线束能量提高了样品的温度。温度升高的幅度有多大？这会降低低温冷却的效果吗？利用热成像技术首次对X射线束加热样品进行了非侵入性测量。具体来说，实验测量了暴露于强同步辐射X射线束并在氮气层流中冷却的1mm和2mm玻璃球（样品替代物）的温升。对于在第三代同步辐射源上收集大分子晶体数据所用的典型样品尺寸、光子能量、通量、通量密度和曝光时间，并且样品准确地集中在低温流中，X射线束的加热仅为几度。这不足以将样品升高到非晶冰/结晶冰转变温度以上，并且如果冷冻流将样品冷却到100K，则甚至不足以显著增强二次效应的辐射损伤。
