Ab initio phasing at resolution higher than experimental resolution

Caliandro, R.; Carrozzini, B.; Cascarano, G.L.; De Caro, L.; Giacovazzo, C.; Siliqi, D.

doi:10.1107/S0907444905015519

从头算分辨率高于实验分辨率时的相位

R.卡利安德罗,B.卡罗齐尼,G.L.卡斯卡拉诺,L.De Caro公司,C.贾科瓦佐和D.斯利奇

由于高分子晶体学中数据的实验分辨率有限，从头算只有当原子或准原子分辨率数据可用时，相位调整才是成功的。结果表明，外推超出和低于实验分辨率极限的非测量反射的模量和相位使从头算相位调整过程更有效，即使在标准统计资料记录2004年的计划没有成功。此外，使用外推值可以提高最终电子密度图的质量，并更容易识别几个试验结构中的正确结构。

关键词：从头算阶段划分;外推反射;更高分辨率.

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