测量Tr公司ρn个关于的单个副本ρ使用随机测量

S.J.van Enk和C.W.J.Beenakker
物理学。修订稿。108,110503–2012年3月16日出版

摘要

虽然众所周知Tr公司ρn个可以通过对n个相同状态的副本ρ这里显示,在单个副本上进行随机测量也足够了。随机测量值的平均值直接得出Tr公司ρn个,即使不知道实际执行了什么测量(以便ρ无法重建)。

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  • 2011年12月5日收到

内政部:https://doi.org/10.10103/PhysRevLett.108.110503

©2012美国物理学会

作者和附属机构

S.J.van Enk先生1,2C.W.J.比纳克尔

  • 1美国俄勒冈尤金俄勒冈大学物理系和俄勒冈光学中心,邮编:97403
  • 2美国加利福尼亚州帕萨迪纳加利福尼亚理工学院量子信息研究所,邮编:91125
  • 荷兰莱顿大学洛伦茨学院,邮政信箱9506,2300 RA Leiden

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第108卷,第。2012年3月11日至16日

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