为了探测宇宙中的暗能量,发展了透镜层析成像的互相关技术。前景星系周围弱切变随红移的变化仅取决于角距离,并且对透镜的主要系统误差具有鲁棒性。我们估计了采用光度红移的深透镜测量可以提供暗能量密度的边缘化精确度Ωd日e(电子)状态参数方程w个及其演变w个′:σ(w个)≃0.01(f)秒k个年−1/2和σ(w个′)≃0.03(f)秒k个年−1/2,其中的前一个σ(Ωd日e(电子))=0.03被认为处于边缘化状态。
DOI(操作界面):https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.911.141302
©2003美国物理学会
布文内什·贾因1和安迪·泰勒2
第91卷,第。2003年10月14日至3日
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