交叉相关层析成像:用弱透镜测量暗能量演化

Bhuvnesh Jain和Andy Taylor
物理。修订版Lett。91,141302–2003年10月3日出版

摘要

为了探测宇宙中的暗能量,发展了透镜层析成像的互相关技术。前景星系周围弱切变随红移的变化仅取决于角距离,并且对透镜的主要系统误差具有鲁棒性。我们估计了采用光度红移的深透镜测量可以提供暗能量密度的边缘化精确度Ωd日e(电子)状态参数方程w个及其演变w个:σ(w个)0.01(f)k个1/2σ(w个)0.03(f)k个1/2,其中的前一个σ(Ωd日e(电子))=0.03被认为处于边缘化状态。

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  • 收到日期:2003年6月10日

DOI(操作界面):https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.911.141302

©2003美国物理学会

作者和附属机构

布文内什·贾因1安迪·泰勒2

  • 1宾夕法尼亚大学物理与天文学系,宾夕法尼亚州费城,19104,美国
  • 2英国爱丁堡EH9 3HJ布莱克福德山皇家天文台天文研究所

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第91卷,第。2003年10月14日至3日

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