电子自旋极化的填充因子和温度依赖性〈S公司z(T型)〉研究了不同塞曼耦合值的二维电子系统。在T型=0,除了ν=1三.处于低位T型,出现峰值〈S公司z(T型)〉在ν=2三和ν=25被解释为早期观察到的可重入行为的表现。在ν=三5,我们可以看到从一个自旋态到另一个低自旋态的逐渐转变T型.在逃T型,〈S公司z(T型)〉通常衰变为T型−1这些可以在光泵核磁共振奈特位移测量中进行探索。
DOI(操作界面):https://doi.org/10.103/PhysRevLett.76.4018
©1996美国物理学会
Tapash Chakraborty公司
P.Pietiläinen
第76卷,第。1996年5月21日至20日
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