分数量子霍尔态的热力学和自旋极化

Tapash Chakraborty和P.Pietiläinen
物理学。修订稿。76,4018–1996年5月20日出版

摘要

电子自旋极化的填充因子和温度依赖性S公司z(T型)研究了不同塞曼耦合值的二维电子系统。T型=0,除了ν=1.处于低位T型,出现峰值S公司z(T型)ν=2ν=25被解释为早期观察到的可重入行为的表现。ν=5,我们可以看到从一个自旋态到另一个低自旋态的逐渐转变T型.在逃T型,S公司z(T型)通常衰变为T型1这些可以在光泵核磁共振奈特位移测量中进行探索。

  • 收到日期:1995年12月15日

DOI(操作界面):https://doi.org/10.103/PhysRevLett.76.4018

©1996美国物理学会

作者和附属机构

Tapash Chakraborty公司

  • 印度马德拉斯塔拉马尼数学科学研究所,邮编:600113

P.Pietiläinen

  • 芬兰奥卢,芬兰林南马,奥卢大学理论物理学-90570

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第76卷,第。1996年5月21日至20日

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