我们研究了向列相液晶电传导中拓扑缺陷湍流的生长界面。界面表现出自仿射粗糙化，其特征是Kardar-Parisi-Zhang理论的空间和时间尺度律$\mathrm{<trans\; data-src="1">1</trans>}<trans\; data-src="+">+</trans>\mathrm{<trans\; data-src="1">1</trans>}$尺寸。此外，我们还揭示了界面涨落的分布和两点相关性是由随机矩阵的最大特征值控制的普适分布。这为普遍性提供了定量的实验证据，规定了尺度变异波动的详细信息。

• 收到日期：2010年1月28日

内政部：https://doi.org/10.103/PhysRevLett.104.230601