微分分支分数的测量和前后不对称B类K(K)(*)+

J.-T.魏等。(百丽合作)
物理学。修订稿。103,171801–2009年10月20日出版

摘要

我们学习B类K(K)(*)+腐烂(=电子,μ)基于以下数据样本657×106 B类B类¯在KEKB使用Belle探测器收集的对电子+电子对撞机。我们报告了微分分支分数,同位旋不对称,K(K)*极化和前后不对称(A类FB公司)作为的功能q个2=M(M)2c(c)2.安装的A类FB公司光谱超过标准模型预期2.7个标准偏差。测得的分支分数为B类(B类K(K)*+)=(10.71+1.1±0.9)×107B类(B类K(K)+)=(4.80.4+0.5±0.3)×107其中,第一个误差是统计误差,第二个误差是系统误差,具有μ子与电子的比值R(右)K(K)*=0.83±0.17±0.08R(右)K(K)=1.03±0.19±0.06.

  • 图
  • 收到日期:2009年4月5日

内政部:https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.103.171801

©2009美国物理学会

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第103卷,第。2009年10月17日至23日

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