最优识别（OI）是最近开发的一种从实验数据中提取量子哈密顿量信息的方法。它使用相干学习控制技术来驱动量子系统，以便动态测量提供有关其哈密顿量的最大信息。OI是最初提出的最佳程序；然而，数据反演组件的计算成本很高。在这里，我们证明了高效的全局、非线性、地图辅助反演程序可以与OI概念相结合，使其更适合于实验室实施。通过对地图辅助OI的模拟，说明了输入-输出地图如何大大加快数据反演过程。

• 收到日期：2003年12月29日

内政部：https://doi.org/10.103/PhysRevA.70.023804