摘要

基于的统计数据系列通过对每个间隙的适当正则函数求和,研究了均匀样品的四阶间隙。Holst(1979)建立了渐近正态性以及均值和方差的显式表达式。这被扩展到来自分布的样本,随着样本大小的增加,分布的均匀性HhrinV受到扰动。从这些结果可以计算出皮特曼渐近相对效率,并表明间隙平方和是一个最优统计量。本文介绍了该统计数据的性质,并与已经处理得很好的对数间隙之和进行了比较。结果表明,这两者变得无法区分,间隙的顺序会增加。

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