观察到的x射线光谱仪最大值的不对称性主要是由于所采用的理想二维聚焦装置的三维特性引起的，主要原因是主光束的垂直发散。提出了一个数学公式，将不对称程度表示为反射角和仪器几何特性的函数。通过实验测量定性地证实了用这种方法预测的不对称效应。提出了减少不对称的实用建议。

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L.S.Birks，美国海军研究实验室报告，编号H‐2517，1945年4月20日。
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1948
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