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ITC 1985：美国宾夕法尼亚州费城

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1985年国际测试会议论文集，美国宾夕法尼亚州费城，1985年11月。 IEEE计算机学会 1985

受邀演讲人

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爱德华·艾切尔伯格:
超大规模集成电路测试的经验和期望。国际贸易中心 1985:4
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保罗·M·拉索:
专用集成电路的发展：机遇与挑战。国际贸易中心 1985:5
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托马斯·麦克威廉姆斯:
简化从设计到测试的过渡。国际贸易中心 1985:6
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约翰·曼佐:
90年代的复杂性、测试和生产力挑战。国际贸易中心 1985:7-9

第1部分：测试经济学

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约翰·斯通,霍华德·伊格纳修斯,兰德尔·努斯:
并行编程显著提高了生产NVM晶圆排序。国际贸易中心 1985:10-18
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彼得·奈斯特罗姆,史蒂文·科斯格罗夫:
功率调节在半导体制造和自动测试设备中提供了记录在案的生产力增长。国际贸易中心 1985:19-22
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朱迪思·戴霍夫,罗伯特·W·阿瑟顿:
测试场操作详细分析的财务影响。国际贸易中心 1985:23-32
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全球品牌大使肯·林赛:
低成本测试系统加快了定制VLSI的设计验证。国际贸易中心 1985:33-39

第2部分：测试生成系统说明-I

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马修·阿迪莱塔,伊丽莎白·库珀,基思·古特弗伦德:
通用扫描设计的自动测试生成。国际贸易中心 1985:40-44
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米隆·阿布拉莫维奇,詹姆斯·库利科夫斯基,普雷马坎德兰·梅农,大卫·T·米勒:
Lamp2中的测试生成：系统概述。国际贸易中心 1985:45-48
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米隆·阿布拉莫维奇,詹姆斯·库利科夫斯基,普雷马坎德兰·梅农,大卫·T·米勒:
Lamp2中的测试生成：概念和算法。国际贸易中心 1985:49-56
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西瓦纳拉亚纳·马莱拉,吴先灵:
时序电路测试生成系统。国际贸易中心 1985:57-61
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安吉洛·C·洪,弗朗西斯·C·王:
一种直接从可测试性分析生成测试的方法。国际贸易中心 1985:62-78
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欧文·特里施勒:
引导不一致路径敏化：方法和实验结果。国际贸易中心 1985:79-87

第三部分：内建自测试输入激励产生的设计与分析

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迪利普·巴夫萨尔:
“级联多分频器”：用于电路板自检的位片LFSR芯片。国际贸易中心 1985:88-93
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卡里·钦（Cary K.Chin）,爱德华·麦克卢斯基:
伪随机测试的测试长度。国际贸易中心 1985:94-99
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雅各布·萨维尔,威廉·麦克安尼,萨尔瓦多·R·韦奇奥:
嵌入式多端口存储器中数据线故障的随机模式测试。国际贸易中心 1985:100-105
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雅各布·萨维尔,威廉·H·麦卡尼,萨尔瓦多·R·韦奇奥:
嵌入式多端口存储器中地址线故障的随机模式测试。国际贸易中心 1985:106-114
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约翰·萨利克,比尔·安德伍德,M.Ray Mercer先生:
用于可编程逻辑阵列的内置自检输入发生器。国际贸易中心 1985:115-125
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加里·克雷格,查尔斯·基姆:
伪穷举邻接测试：一种用于卡开故障的BIST方法。国际贸易中心 1985:126-139

第4部分：系统测试

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谢里·克洛斯特曼:
基于ROM常驻诊断的计算机系统诊断策略。国际贸易中心 1985:140-144
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阿默·马哈茂德,爱德华·J·麦克罗斯基,艾丁·埃尔索兹:
使用看门狗处理器进行并发系统级错误检测。国际贸易中心 1985:145-152
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大卫·S·库里:
半导体测试设备被视为自动校准系统。国际贸易中心 1985:153-158
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唐纳德·伦赫特:
为新产品增加远程操作能力的用途和成本。国际贸易中心 1985:159-168
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大卫·雅各布森:
随机存取存储器系统功能测试的快速概率算法。国际贸易中心 1985:169-179

第5部分：测试设备：校准和定时精度

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威廉·科利,大卫·S·库里:
ATE系统中的射频校准。国际贸易中心 1985:180-184
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大卫·C.楚:
精密时间间隔计数器系统误差的校准。国际贸易中心 1985:185-190
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吉姆·希利,加里·尤尔:
一种减少ATE系统误差分量并保证亚纳秒测量精度的方法。国际贸易中心 1985:191-202
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  - conf/itc/Petrich85
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丹尼斯·彼得里奇:
在制造/进货检验环境中实现TTL/CMOS器件的精确定时测量。国际贸易中心 1985:203-219
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加里·吉列:
定时精度测量系统。国际贸易中心 1985:220-223

第6部分：大学测试技术

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  - conf/itc/FeugateM85
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小罗伯特·J·费加特。,史蒂文·麦金太尔:
培养未来的测试工程师：教授超大规模集成电路测试本科课程的经验。国际贸易中心 1985:224-229
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  - conf/itc/集团N85
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小阿尔伯特·B·格拉布斯。,格伦·尼兰德:
电子电路测试的未来趋势对入门级测试专业人员的影响。国际贸易中心 1985:230-234
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  - conf/itc/MCluskey公司85
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爱德华·J·麦克罗斯基:
测试教学。国际贸易中心 1985:235
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  - conf/itc/Miczo85型
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亚历山大·米佐:
写一篇关于考试的文章时你会说什么？国际贸易中心 1985:236-238
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  - conf/itc/Rose85型
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肯尼斯·罗斯:
大学环境中的测试技术。国际贸易中心 1985:239-240
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  - conf/itc/Tuszynski85
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Al A.Tuszynski先生:
快速变化技术课程。国际贸易中心 1985:241-243

第8部分：测试程序自动生成技术

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  - conf/itc/Wilber85公司
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詹姆斯·G·威尔伯:
提高设备测试编程效率：CATalyst自动测试程序生成器。国际贸易中心 1985:252-262
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  - conf/itc/MuranagaSO85
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Keiji Muranaga公司,京都樱田,小川由纪夫:
语言无关测试生成。国际贸易中心 1985:263-270
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  - conf/itc/Shalem85号文件
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/Shalem85
Shmuel Shalem先生:
DIP：诊断处理器。国际贸易中心 1985:271-278
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  - conf/itc/Contini85公司
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毛里齐奥·孔蒂尼:
Autopal测试过程。国际贸易中心 1985:279-285
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  - conf/itc/Pany公司85
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克劳德·帕尼:
简化模拟设备测试程序生成。国际贸易中心 1985:286-290
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  - conf/itc/Midleton公司85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/Middleton85
汤姆·米多顿:
回收功能测试向量：模式转换的技术和工具。国际贸易中心 1985:291-303

第9部分：测试生成系统指南-II

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  - conf/itc/ChenMN85
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哈里·H·陈,罗伯特·马修斯,约翰·A·纽柯克:
一种在开关级生成MOS电路测试的算法。国际贸易中心 1985:304-312
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  - conf/itc/ChandramouliS85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/ChandramouliS85
R.Chandramouli公司,赫克托·苏卡尔:
MOS技术中的缺陷分析和故障建模。国际贸易中心 1985:313-321
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  - conf/itc/TurnerLPM85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/TurnerLPM85
马克·特纳,杜安·利特,罗纳德·普里利克,大卫·J·麦克林:
测试CMOS VLSI：工具、概念和实验结果。国际贸易中心 1985:322-328
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T.下野,K.Oozeki公司,高桥先生,马萨托·卡瓦伊,Shigehiro Funatsu先生:
门阵列LSI交直流测试生成系统。国际贸易中心 1985:329-333
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肯尼思·瓦格纳:
组合电路和时序电路中延迟故障的错误延迟。国际贸易中心 1985:334-341
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  - conf/itc/Smith公司85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/Smith85
戈登·史密斯:
基于路径的延迟故障模型。国际贸易中心 1985:342-351

第10部分：内建自测试的新发展

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保罗·巴德尔,威廉·H·麦卡尼:
随机存取存储器的自我测试。国际贸易中心 1985:352-355
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  - conf/itc/富士A85
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罗伯特·H·富井,雅各布·A·亚伯拉罕:
微处理器自检。国际贸易中心 1985:356-361
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  - conf/itc/KrasniewskiA85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/KrasniewskiA85
安德烈·克拉斯涅夫斯基,亚历山大·阿尔比奇:
具有Bilbo模块的穷尽自测试芯片的自动设计。国际贸易中心 1985:362-371
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  - conf/itc/KooL85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/KooL85
弗朗西斯·库奥,吉恩·W·李:
集成签名分析和设置/扫描技术的VLSI芯片中的故障隔离。国际贸易中心 1985:372-379

第11部分：非传统板测试

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  - conf/itc/Beenker85
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弗兰斯·P·M·比恩克:
数字电路板测试的系统和结构化方法。国际贸易中心 1985:380-385
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  - conf/itc/Filippone85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/Filippone85网址
斯蒂芬·菲利波恩（Stephen F.Filippone）:
自动化测试床故障检测和诊断。国际贸易中心 1985:386-392
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  - conf/itc/菲利普85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/Pillips85
杰弗里·菲利普斯:
基于处理器和外围印刷电路板的可编程总线仿真技术。国际贸易中心 1985:393-398
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  - conf/itc/Marro85年
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Dom Marro公司:
表面安装组件的自动目视测试。国际贸易中心 1985:399-402
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  - conf/itc/Jones公司85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/Jones85
斯科特·琼斯:
印制电路板生产的柔性检验系统（FIS）：ATE找到一个质量合作伙伴。国际贸易中心 1985:403-412
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  - conf/itc/Bulton85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/Boulton85
赫伯·博尔顿:
将热成像测试应用于印刷电路板和成品的新概念。国际贸易中心 1985:413-419

第12部分：VLSI测试系统-特定问题的解决方案

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  - conf/itc/Stevens公司85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/Stevens85
安东尼·史蒂文斯:
使用VLSI测试器420进行MHz频率计数。国际贸易中心 1985:420-427
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  - conf/itc/莫里斯85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/Morris85网址
D.R.莫里斯:
通用信号路由卡。国际贸易中心 1985:428-430
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  - conf/itc/YoshinoT85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/YoshinoT85
吉野良寿,高木良治:
定制VLSI测试系统。国际贸易中心 1985:431-437

第13部分：记忆测试-变化的场景

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  - conf/itc/SimizuONM85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/SimizuONM85
清水先生,N.奥基诺,J.西浦,H.丸山:
内存嵌入式VLSI门阵列测试。国际贸易中心 1985:438-444
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  - conf/itc/罗杰斯S85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/RodgersS85
D.罗杰斯,M.谢泼德:
异步FIFO需要特别注意。国际贸易中心 1985:445-450
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  - conf/itc/宫本茂85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/MyaamotoMMAYN85
宫本浩史,小一郎Mashiko,吉田茂,Kazutami Arimoto先生,山田敏弘,T.Nakano公司:
容错高密度DRAM的测试模式注意事项。国际贸易中心 1985:451-455
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  - conf/itc/富士达A85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/FjiedaA85
藤田T.Fujieda,N.Arai公司:
测试具有双端口的RAM的注意事项。国际贸易中心 1985:456-461
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  - conf/itc/斯里达尔85
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Thirumalai Sridhar公司:
一种新的大型存储器并行测试方法。国际贸易中心 1985:462-470
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  - conf/itc/镀金H85
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格雷迪·贾尔斯,克雷格·亨特:
一种测试内容寻址存储器的方法。国际贸易中心 1985:471-475

第14部分：测试生成和设计验证技术

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  - conf/itc/VasanthavadaM85
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纳格什·瓦桑塔瓦达,彼得·马里诺:
使用线性码生成穷举测试模式的操作高效方案。国际贸易中心 1985:476-482
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  - conf/itc/AbadirR85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/AbadirR85
Magdy S.Abadir公司,哈桑·雷格巴蒂:
二进制决策图描述的LSI电路的功能测试生成。国际贸易中心 1985:483-492
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  - conf/itc/成P85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/ChengP85
吴东成,贾纳克·帕特尔:
迭代逻辑阵列中的多重故障检测。国际贸易中心 1985:493-499
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  - conf/itc/AgarwalR85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/AgarwalR85
维诺德·阿加瓦尔,贾努斯·拉赫斯基:
无逆变器PLA的测试性能和应用。国际贸易中心 1985:500-507
- 无可用文档
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  - conf/itc/GoldbergL85公司
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/GoldbergL85
安德鲁·戈德堡,卡尔·J·利伯海尔:
高效的测试生成算法。国际贸易中心 1985:508-517

第15部分：质量/可靠性

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  - conf/itc/McPhee公司85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/McPhee85网址
吉尔·M·麦克菲:
反向驱动集成电路的影响：一个精确的电热模型。国际贸易中心 1985:518-522
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  - conf/itc/HielscherP85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/HielscherP85
弗兰克·希尔舍尔,约翰·帕加诺:
CMOS门阵列电路的背驱应力测试。国际贸易中心 1985:523-533
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  - conf/itc/Hendriks85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/Hendriks85网址
约瑟夫·亨德里克斯:
超越NMOS和CMOS VLSI电路。国际贸易中心 1985:534-539
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  - conf/itc/Helms85
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霍华德·赫尔姆斯:
测量半导体元件早期失效率的各种系统架构。国际贸易中心 1985:540-543
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  - conf/itc/SodenH85型
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/SodenH85
杰里·索登,查尔斯·霍金斯:
CMOS集成电路中栅氧化短路的电气特性和测试注意事项。国际贸易中心 1985:544-557

第16部分：可测试性设计

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  - conf/itc/FasangSSG85
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帕特里克·法桑,迈克尔·舒特,约翰·保罗·沈,威廉·格瓦尔尼:
半定制集成电路可测试性的自动化设计。国际贸易中心 1985:558-564
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  - conf/itc/Orsello公司85
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罗伯特·J·奥塞洛:
可编程逻辑：设计可测试性。国际贸易中心 1985:565-566
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  - conf/itc/HaR85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/HaR85
董三哈,Sudhakar M.Reddy公司:
可测试Domino PLA的设计。国际贸易中心 1985:567-573
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  - conf/itc/FujiwaraSK85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/FujiwaraSK85
藤原秀夫,Kewal K.Saluja公司,Kozo Kinoshita公司:
具有通用控制和最小开销的可编程逻辑阵列的可测试设计。国际贸易中心 1985:574-582
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  - conf/itc/雅各布B85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/JacobB85
詹姆斯·雅各布,Nrefeendra N.Biswas公司:
：可测试的PLA设计，具有最少的硬件和测试集。国际贸易中心 1985:583-588
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  - conf/itc/LamCL85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/LamCL85
艾伯特·林,Savio北洲,Huy Luong公司:
一类自练习组合电路的设计。国际贸易中心 1985:589-601

第17部分：测试仪接口：板测试和芯片探测

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  - conf/itc/EigerC85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/EigerC85
马丁·艾格,米歇尔·查博特:
高性能夹具布线算法。国际贸易中心 1985:602-609
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  - conf/itc/拉赫曼J85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/LahmanJ85
H.S.拉赫曼,C.L.约翰逊:
夹具接线问题的计算机解决方案。国际贸易中心 1985:610-617
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  - conf/itc/MooreG85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/MooreG85
蒂姆·摩尔,斯蒂芬·加纳:
L200功能测试仪上的自动巡检。国际贸易中心 1985:618-628
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  - conf/itc/Congdon85
- 问别人
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/Congdon85
詹姆斯·康登:
高性能ATE的驱动器/传感器设计。国际贸易中心 1985:629-633
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  - conf/itc/SiragasawaSMN85
- 问别人
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/ShiragasawaSMN85
白川昭一（T.Shiragasawa）,M.Sugano先生,吉西萨·马诺,M.诺约里:
诊断超大规模集成电路的在线激光探测系统。国际贸易中心 1985:634-642
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  - conf/itc/KujiT85
- 问别人
- 股份记录
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/KujiT85
诺里奥·库吉,Teruo Tamama公司:
自动故障诊断EB测试仪及其在40K门VLSI电路中的应用。国际贸易中心 1985:643-651

第18A部分：测试仪接口/调试收费

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  - conf/itc/LeeL85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/LeeL85
S.丹尼尔·李,丽莎·迪尔·李:
高性能VLSI测试系统测试程序调试的综合方法。国际贸易中心 1985:652-665
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  - conf/itc/SharmaMLA85文件
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/SharmaMLA85
布里扬德拉·夏尔马,科林·麦金太尔,杰勒德·拉本维尔,何塞·阿维拉:
综合测试程序开发包。国际贸易中心 1985:666-671
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  - conf/itc/Downey公司85
- 问别人
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/Downey85网址
阿瑟·E·唐尼:
波形：高效测试程序开发的软件工具。国际贸易中心 1985:672-677

第18B部分：测试软件标准

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  - conf/itc/白色85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/Wite85网址
里德I.怀特:
TRS和DTS:IC测试结果标准。国际贸易中心 1985:678-684
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  - conf/itc/FalkenstromKPRW85
- 问别人
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/FalkenstromKPRW85
L.J.法肯斯特罗姆,大卫·C·基泽,A.帕特森,罗伯特·罗尔夫,J.沃尔科特:
测试人员独立支持软件系统（TISSS）。国际贸易中心 1985:685-691

第19部分：逻辑仿真和仿真模型

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  - conf/itc/GilesBHM85
- 问别人
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/GilesBHM85
大卫·贾尔斯,肯尼思·波登,迈克·哈尼,格雷戈里·马斯顿:
通过物理设备模型保持仿真准确性。国际贸易中心 1985:692-695
- 无可用文档
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  - conf/itc/RichmanB85
- 问别人
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/RichmanB85
杰里米·里奇曼,肯尼思·波登:
现代故障词典。国际贸易中心 1985:696-702
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  - conf/itc/乌尔里希85
- 问别人
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/Ulrich85
恩斯特·乌尔里奇:
交换机、门和寄存器级别的并发模拟。国际贸易中心 1985:703-709
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  - conf/itc/RogersA85文件
- 问别人
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/RogersA85
威廉·罗杰斯,雅各布·A·亚伯拉罕:
CHIEFS：一个并发、分层和可扩展的故障模拟器。国际贸易中心 1985:710-716
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  - conf/itc/KawamuraH85
- 问别人
- 股份记录
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/KawamuraH85
川村正彦,汉字Hirabayashi:
AFS：一个近似故障模拟器。国际贸易中心 1985:717-721
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  - conf/itc/BarzilaiIRS85
- 问别人
- 股份记录
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/BarzilaiIRS85
泽夫·巴齐莱,维杰·艾扬格,巴里·罗森,加布里埃尔·西尔伯曼:
差分CVS电路的精确故障建模和高效仿真。国际贸易中心 1985:722-731

第20部分：微处理器/VLSI测试I

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  - conf/itc/马来亚85
- 问别人
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/Mailaiya85网址
Yashwant K.Malaiya公司:
微程序和硬接线控制故障。国际贸易中心 1985:732
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  - conf/itc/StaelinA85
- 问别人
- 股份记录
  持久URL：
  - https://dblp.org/rec/conf/itc/StaelinA85
卡尔·斯塔林,亚历山大·阿尔比奇:
并行测试微程序控制单元的监视器复杂性评估。国际贸易中心 1985:733-736
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  dblp键：
  - conf/itc/VelazcoZK85
- 问别人
- 股份记录
  持久URL：
  - https://dblp.org/rec/conf/itc/VelazcoZK85
拉乌尔·贝拉斯科,海萨姆·齐亚德,E.科洛基萨斯:
一种允许故障定位的微处理器测试方法。国际贸易中心 1985:737-743
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  - conf/itc/VerbeekB85
- 问别人
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  持久URL：
  - https://dblp.org/rec/conf/itc/VerbeekB85
D.K.Verbeek博士,威廉·布鲁斯:
MC68HC11的可测试性特征。国际贸易中心 1985:744-751
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  - conf/itc/巴斯托K85
- 问别人
- 股份记录
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/BastoK85
路易斯·巴斯托,约翰·库班:
测试MC68881浮点协处理器的功能。国际贸易中心 1985:752-759

第21部分：可测试性分析

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  - 会议/itc/KovijanicK85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/KovijanicK85
Predrag G.Kovijanic公司,拉梅什·库尔卡尼:
可编程阵列逻辑的可测试性分析。国际贸易中心 1985:760-768
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  - conf/itc/KrishnamurthyS85
- 问别人
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/KrishnamurthyS85
巴拉克里什南·克里希纳穆提,理查德·李成胜:
一种在测试生成中使用可测试性分析的新方法。国际贸易中心 1985:769-778
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  - conf/itc/WaicukauskiLEFM85
- 问别人
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/WaicukauskiLEFM85
约翰·韦库考斯基（John A.Waicukauski）,埃里克·林布卢姆,爱德华·B·艾切尔伯格,多纳托·福伦萨,提姆·麦卡锡:
通过快速故障模拟对故障检测概率进行统计计算。国际贸易中心 1985:779-784
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  - conf/itc/Brglez85公司
- 问别人
- 股份记录
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/Brglez85
弗兰克·布尔格勒:
快速故障分级器：分析与应用。国际贸易中心 1985:785-794
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  - conf/itc/Abramovici85
- 问别人
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/Abramovic85网址
米隆·阿布拉莫维奇:
低成本故障模拟：原因、时间和方式。国际贸易中心 1985:795
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  - conf/itc/Agrawal85
- 问别人
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/Agrawal85
维什瓦尼·D·阿格拉瓦尔:
STAFAN选择了中间路线。国际贸易中心 1985:796
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  - conf/itc/Brglez85a公司
- 问别人
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/Brglez85a
弗兰克·布尔格勒:
故障覆盖工具：案例研究。国际贸易中心 1985:797-800
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  - conf/itc/GeolH85
- 问别人
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/GeolH85
普拉巴卡尔·戈尔,黄志来:
统计故障采样和全故障模拟。国际贸易中心 1985:801-802
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  - conf/itc/Seth85
- 问别人
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/Seth85
莎拉·塞思:
从概率测试性预测故障覆盖率。国际贸易中心 1985:803-807

第22部分：高级测试技术：模拟设备和系统

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  - conf/itc/哈萨克斯坦85
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D.哈萨克斯坦:
线性模拟系统的统计故障检测方法。国际贸易中心 1985:808-812
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  - conf/itc/StenbakkenS85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/StenbakkenS85
杰拉德·N·斯坦巴肯,T.迈克尔·索德斯:
：数据转换器测试的建模和测试点选择。国际贸易中心 1985:813-817
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  - conf/itc/Browning公司85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/Browning85
克莱德·布朗宁:
在微型计算机上测试A/D转换器。国际贸易中心 1985:818-824
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  - conf/itc/KitayoshiSST85
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H.Kitayoshi先生,南苏美达,K.白川方明,S.竹下:
用于模拟测试刺激的DSP合成信号源和新的测试方法。国际贸易中心 1985:825-834
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  - conf/itc/Schusheim85
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布伦特·舒希姆:
对复杂电信设备采用多种测试技术。国际贸易中心 1985:835-841
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  - conf/itc/MatthiesenO85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/MatthiesenO85
F.马蒂森,迈克尔·J·奥莱茨:
数字横向滤波器测试。国际贸易中心 1985:842-847

第23部分：人工智能在测试中的应用

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  - conf/itc/RyanW85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/RyanW85
帕特里夏·M·瑞恩,A.杰西·威尔金森:
ATE诊断的知识获取。国际贸易中心 1985:848-856
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  - conf/itc/烤架W85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/GrillmeyerW85
奥利弗·格里尔迈耶,A.杰西·威尔金森:
用于测试系统诊断的规则库和推理机的设计与构造。国际贸易中心 1985:857-867
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  - conf/itc/Apfelbaum公司85
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  - https://dblp.org/rec/conf/itc/Apfelbaum85网址
拉里·阿普费尔鲍姆:
电路故障诊断专家系统。国际贸易中心 1985:868-874
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  - conf/itc/LuskyS85公司
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斯蒂芬·卢斯基,Thirumalai Sridhar公司:
开关级仿真中可检测的CMOS故障。国际贸易中心 1985:875-883
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九州子:
基于规则的可测试性检查器和测试生成器。国际贸易中心 1985:884-891

第24课时：微处理器/VLSI测试II

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Frank F.Tsui先生:
LSI/VLSI测试中的成本和速度障碍：可测试性设计能克服吗？国际贸易中心 1985:892-906
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阿里·菲兹,达穆·拉德哈克里希南:
多输出通路网络：设计和测试。国际贸易中心 1985:907-911
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刘贝尔（Bell Liu）:
可配置逻辑阵列测试的挑战。国际贸易中心 1985:912-921
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林东生（Tonysheng Lin）,斯蒂芬·Y·H·苏:
VLSI功能测试模式生成：一种设计与实现。国际贸易中心 1985:922-929
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乌明戈,迪内什·G·帕特尔,弗朗索瓦·亨利:
非接触式VLSI激光探测。国际贸易中心 1985:930-937

第25A节：集成电路过程和测试数据管理

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罗伯特·W·阿瑟顿,约翰·穆奇:
利用参数测试数据的模式识别分析优化微处理器速度。国际贸易中心 1985:938-948
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约翰·D·托比:
减少内存设备的测试程序开发时间。国际贸易中心 1985:949-953
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威廉·P·阿莱雷:
案例研究：使用外围仿真的ATE网络。国际贸易中心 1985:954-961

第25B节：印刷电路板制造工艺

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迈克尔·达普伦:
将设计工具链接到电路测试系统。国际贸易中心 1985:962-971
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彼得·汉森:
将设备测试矢量转换为电路板内测试环境。国际贸易中心 1985:972-979
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史蒂文·纳尔逊:
分布式工厂数据管理——打破网络瓶颈。国际贸易中心 1985:980-986

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