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XPS深度剖析结合TEM分析评估溶液衍生YBa2Cu3O7-δ纳米复合薄膜中的纳米粒子分布

(2022)晶体. 12(3).
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摘要
本工作讨论了用于评估纳米复合薄膜中纳米颗粒分布的分析程序的开发。从胶体YBCO溶液和预制纳米粒子出发,采用化学溶液沉积法合成了YBa2Cu3O7-delta(YBCO)纳米复合薄膜。利用X射线光电子能谱(XPS)深度剖析评估了纳米颗粒的分布和层间扩散,并与横截面透射电子显微镜(TEM)图像进行了比较。结果表明,这两种技术的结合提供了有关纳米颗粒分布、薄膜厚度和层间扩散等薄膜特性的宝贵信息。
关键词
无机化学,凝聚态物理,通用材料科学,通用化学工程,XPS公司,透射电镜,深度剖面测量,分布,纳米粒子,化学溶液沉积,巴兹罗3

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MLA公司
Bruneel,Els等人,“通过XPS深度剖面结合TEM分析评估溶液衍生YBa2Cu3O7-δ纳米复合薄膜中的纳米粒子分布”晶体,第12卷,2022年第3期,doi:10.3390/cryst12030410。
亚太地区
Bruneel,E.、Rijckaert,H.、Diez Sierra,J.、De Buysser,K.和Van Driessche,I.(2022)。通过XPS深度剖析结合TEM分析评估溶液衍生YBa2Cu3O7-δ纳米复合薄膜中的纳米粒子分布。晶体,12(3). https://doi.org/10.3390/cryst12030410
芝加哥作者日期
布鲁内尔(Bruneel)、埃尔斯(Els)、汉内斯·里杰卡特(Hannes Rijckaert)、哈维尔·迪兹·塞拉(Javier Diez Sierra)、克拉杰·德·布伊塞尔(Klaartje De Buysser)和伊莎贝尔·范·德莱西(Isabel Va。2022.“通过XPS深度剖面结合TEM分析评估溶液衍生YBa2Cu3O7-δ纳米复合薄膜中的纳米粒子分布”晶体12 (3). https://doi.org/10.3390/cryst12030410。
芝加哥作者日期(所有作者)
Bruneel、Els、Hannes Rijckaert、Javier Diez Sierra、Klartje De Buysser和Isabel Van Driessche。2022.“通过XPS深度剖面结合TEM分析评估溶液衍生YBa2Cu3O7-δ纳米复合薄膜中的纳米粒子分布”晶体12 (3). doi:10.3390/cryst12030410。
温哥华
1
Bruneel E、Rijckaert H、Diez Sierra J、De Buysser K、Van Driessche I。通过XPS深度剖析结合TEM分析评估溶液衍生YBa2Cu3O7-δ纳米复合薄膜中的纳米粒子分布。晶体。2022;12(3).
电气与电子工程师协会
[1]
E.Bruneel、H.Rijckaert、J.Diez Sierra、K.De Buysser和I.Van Driessche,“通过XPS深度剖析结合TEM分析评估溶液衍生YBa2Cu3O7-δ纳米复合薄膜中的纳米粒子分布,”晶体,第12卷,第3期,2022年。
@第{8746576条,abstract={{本工作讨论了评估纳米复合薄膜中纳米颗粒分布的分析程序的开发。YBa2Cu3O7-delta(YBCO)通过化学溶液沉积法,从带有预制纳米粒子的YBCO胶体溶液开始合成纳米复合薄膜。利用X射线光电子能谱(XPS)深度剖析评估了纳米颗粒的分布和层间扩散,并与横截面透射电子显微镜(TEM)图像进行了比较。结果表明,这两种技术的结合提供了有关纳米颗粒分布、薄膜厚度和层间扩散等薄膜特性的宝贵信息,articleno={{410}},author={{Brunel、Els和Rijckaert、Hannes和Diez Sierra、Javier和De Buysser、Klaartje和Van Driessche、Isabel},issn={{2073-4352}},日志={{晶体}},关键词={{无机化学、凝聚态物理、通用材料科学、通用化学工程、XPS、TEM、深度剖析、分布、纳米粒子、化学溶液沉积、BAZRO3}},language={{eng}},数字={{3}},title={{XPS深度剖析结合TEM分析对溶液衍生YBa2Cu3O7-δ纳米复合薄膜中纳米颗粒分布的评估}},url={{http://doi.org/10.3390/cryst12030410}},体积={{12}},年份={2022}},}
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