py4DSTEM:用于四维扫描透射电子显微镜数据分析的软件包

@第{Savitzky2020py4DSTEMAS条,title={py4DSTEM:Four-Dimensional Scanning Transmission Electron Microscopy Data Analysis的软件包},author={本杰明·萨维茨基(Benjamin H.Savitzky)、史蒂文·泽尔特曼(Steven E.Zeltmann)、劳伦·休斯(Lauren A.Hughes)、哈米什·布朗(Hamish G.Brown)、赵世腾(Shiteng Zhao)、菲利普·佩尔兹(Philipp M.Pelz)、托马斯·贝金(Thomas C.Pekin)、爱德华·巴纳德(Edward S.Barna。Herring和Chirranjeevi Balaji Gopal、Abraham Anapolsky和Rohan Dhall、Karen C.Bustillo、Peter Ercius和Mary C.Scott、Jim Ciston、Andrew M.Minor和Colin Ophus},期刊={显微镜和微观分析},年份={2020年},体积={27},页码={712-743},url={https://api.semanticscholar.org/CorpusID:214612204}}
摘要扫描透射电子显微镜(STEM)可以在微米到原子的长度范围内对材料进行成像、衍射和光谱分析。通过使用高速直接电子探测器,现在可以在每个探针位置(通常是探针位置的二维网格)记录衍射电子束的全二维(2D)图像。这些4D-STEM数据集包含丰富的信息,包括局部结构、方向、变形等特征

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